Únase a nosotros para una sesión de la tarde con presentaciones sobre aplicaciones prácticas de JMP. Se llevará a cabo después del almuerzo después de la presentación matutina de Nuevo en JMP 15 y Nuevo en JMP Pro 15 por parte del personal de JMP, que demostrará y responderá preguntas sobre nuevas capacidades.
Ubicación:
Centro de capacitación SAS Arlington
1530 Wilson Blvd
Suite 1000
Arlington, VA 22209
1:30 - 4:00 pm
La agenda de la reunión MAJUG de la tarde y el formulario de registro están siendo finalizados. Las presentaciones incluirán:
Extracción de información práctica valiosa de modelos experimentales creados para la calidad por diseño
Presentado por Rob Lievense, ingeniero de sistemas sénior, JMP
Extracción de información práctica valiosa de modelos experimentales creados para la calidad mediante el diseño Los modelos JMP DOE se pueden utilizar de forma dinámica para proporcionar a las partes interesadas estimaciones fiables del rendimiento de calidad de los nuevos productos. El diseño y la ejecución de experimentos estructurados y multivariados permiten a los científicos e ingenieros definir de manera eficiente un espacio de diseño sólido para la fabricación de dispositivos médicos y farmacéuticos. Los modelos creados a través de la plataforma DOE en JMP se utilizan para determinar la configuración de los parámetros críticos del proceso (CPP) que garantizan un proceso sólido para fabricar productos que cumplan con los requisitos de los atributos críticos de calidad (CQA). Las presentaciones regulatorias que incluyen dichos elementos QbD demuestran que los riesgos se han mitigado; sin embargo, se puede extraer una gran cantidad de información práctica con simulaciones del modelo. Esta presentación utiliza el modelo experimental con información histórica y experiencia en la materia para proyectar el probable desempeño operativo de un producto. El perfil de predicción del modelo DOE se usa con el simulador para predecir dinámicamente una población de resultados futuros con patrones de variación del mundo real incluidos en las entradas. Este modelado dinámico es una excelente herramienta para establecer límites de tarjetas de fabricación determinando un espacio de control de fabricación definido con estimaciones del porcentaje de defectos. Los análisis permiten incluir la incertidumbre de la medición como un factor de ruido adicional para la respuesta.
