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複雑な製造プロセスの監視と制御

方法をご覧ください:

• 複数のプロセスを時間の経過とともにスクリーニングする
  • 管理図ビルダーを使用して一度に1つのプロセスを調べる
  • プロセススクリーニングを使用して複数のプロセスを検査および比較する

方法をご覧ください:

• プロセスシフトを理解する
  • サブグループのサンプルサイズ
  • シフトと外れ値のしきい値を設定する
  • シフト検出パラメータを設定する
  • 指数加重移動平均（EWMA）の解釈

方法をご覧ください:

• 非正規能力調査を実施する
  • 適合度、正規分布図、ノンパラメトリック密度を解釈する
  • 各プロセスの配分を設定する
  • 分布を列プロパティとして保存して、さらに調査する
  • 能力指数プロットの解釈

方法をご覧ください:

• 複数の能力調査を比較する
• 安定率とPPK能力の境界を設定する
• プロセスパフォーマンスグラフを解釈する

リソース

• JMP 学習ライブラリ、品質とプロセス (能力)
• 能力調査に関する JMP ドキュメント
• NIST ハンドブック – プロセス能力に関するセクション

品質およびプロセスエンジニアリング