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監控複雜的製造過程

請參閱如何：

• 隨著時間的推移篩選多個進程
  • 使用控製圖產生器一次檢查一個流程
  • 使用過程篩選檢查和比較多個過程

請參閱如何：

• 了解流程轉變
  • 子組樣本量
  • 設定偏移和異常值閾值
  • 設定移位檢測參數
  • 解釋指數加權移動平均線 (EWMA)

請參閱如何：

• 進行非常態能力研究
  • 解釋擬合優度、常態分位數圖和非參數密度
  • 為每個進程設定分配
  • 將分佈保存為列屬性以供進一步研究
  • 解釋能力指數圖

請參閱如何：

• 比較多項能力研究
• 設定穩定比和 PPK 能力邊界
• 解釋過程性能圖

資源

• JMP 學習庫、品質和流程（能力）
• JMP 能力研究文檔
• NIST 手冊 – 製程能力部分

品質和工藝工程