EMP III – 불완전 데이터 사용(2006) 책에서 Don Wheeler가 설명한 EMP(측정 프로세스 평가) 접근 방식과 게이지 R&R을 비교하는 것을 포함하여 측정 시스템 분석 원리를 이해합니다. 첨부된 데이터를 사용하여 제시된 기술 중 일부를 연습해 보세요.정기적으로 업데이트되는 데이터는 다음에서도 찾을 수 있습니다. Goldensnowball.com.
방법을 확인하세요:
- 측정 시스템 변동과 이것이 프로세스에 미치는 영향을 정량화합니다.
- 기본 측정 시스템 평가 원칙 이해
- 게이지 연구의 목적과 유형 이해
- 게이지 연구 수행 시 고려 사항 이해: 무작위 부품 주문, 시간, 작업자 기밀 유지, 표준 절차 따르기, 테스트를 방해하지 않고 모니터링하기
- 연속 게이지 연구 수행
- 변동성 게이지 차트, 게이지 R&R 측정값, 게이지 R&R에 대한 분산 성분 해석
- 교차 테스트 실행
- 공차 간격 또는 사양 선택(LSL 및 USL)
- 속성 게이지 연구 수행
- 측정 시스템을 분류하기 위해 EMP 방법을 사용하여 클래스 간 상관 관점을 달성합니다.
- 범위 차트, 평행 도표, EMP 결과, 게이지 분류 해석
- 프로세스 스크리닝의 목적 이해: 프로세스가 꾸준하고 안정적이며 예측 가능한지 확인하여 이를 사용하여 향후 성능을 모니터링하거나 프로세스 변경이 프로세스에 미치는 영향을 평가합니다.
- 프로세스의 소리 조사: 프로세스가 제어되고 있으며 최소한의 차이를 보이고 있습니까?
- 고객의 소리 조사: 프로세스가 사양 내에서 우수한/최고의 부품을 생산하고 있습니까?
- 관리도 작성기를 사용하여 공정 능력 조사
- 개별 및 이동 범위 차트, 한계 요약, XBar 및 R 차트, 공정 능력 분석 해석
- JMP 15에 도입된 다변량 관리도의 목적 이해: 개별 프로세스가 관리 상태에 나타날 수 있지만 상호 관계가 프로세스 능력에 영향을 미칠 수 있는 두 개 이상의 상호 연관된 프로세스 변수를 식별합니다.
자원
JMP Variability Gauge Study OptionsJMP Variability Gauge Study OptionsJMP 변동성 게이지 연구 옵션
JMP Variability Gauge Study ResultsJMP Variability Gauge Study ResultsJMP 변동성 측정 연구 결과
JMP Gauge Study ResultsJMP Gauge Study ResultsJMP 게이지 연구 결과
