Comprendere i principi di analisi del sistema di misurazione, incluso il confronto tra Gauge R&R e l'approccio EMP (Evaluating the Measurement Process) descritto da Don Wheeler nel libro EMP III –Using Imperfect Data (2006). Utilizza i dati allegati per esercitarti con alcune delle tecniche presentate.I dati, aggiornati regolarmente, si trovano anche all'indirizzo goldensnowball.com.
Scopri come:
- Quantificare la variazione del sistema di misurazione e il suo impatto sul processo
- Comprendere i principi di base della valutazione del sistema di misurazione
- Comprendere scopi e tipi di Gauge Studies
- Comprendere le considerazioni per condurre uno studio di misura: ordine casuale delle parti, ora del giorno, riservatezza dell'operatore, rispetto delle procedure standard, monitoraggio ma non interferenza con i test
- Eseguire uno studio continuo del misuratore
- Interpretare il grafico del misuratore di variabilità, le misurazioni R&R del misuratore, i componenti della varianza per R&R del misuratore
- Esegui test incrociati
- Seleziona intervalli o specifiche di tolleranza (LSL e USL)
- Eseguire lo studio dell'indicatore degli attributi
- Interpretare il grafico degli attributi del misuratore, i rapporti sugli accordi
- Utilizzare il metodo EMP per ottenere una prospettiva di correlazione interclasse per classificare un sistema di misurazione
- Interpretare grafici di intervallo, grafici paralleli, risultati EMP, classificazione degli indicatori
- Comprendere lo scopo dello screening del processo: determinare se il processo è costante, stabile e prevedibile in modo da poterlo utilizzare per monitorare le prestazioni future e/o valutare l'impatto dei cambiamenti sul processo
- Esaminare la voce del processo: il processo ha il controllo e presenta una varianza minima?
- Esaminare la voce del cliente: il processo produce parti buone/migliori che rientrano nelle specifiche?
- Utilizzare Control Chart Builder per esaminare la capacità del processo
- Interpretazione di grafici di range individuali e mobili, riepiloghi dei limiti, grafici XBar e R, analisi della capacità del processo
- Comprendere lo scopo delle carte di controllo multivariate introdotte in JMP 15: identificare due o più variabili di processo correlate in cui l'interrelazione potrebbe influire sulla capacità del processo sebbene i singoli processi possano apparire sotto controllo
Risorse
JMP Variability Gauge Study OptionsJMP Variability Gauge Study OptionsOpzioni di studio del misuratore di variabilità JMP
JMP Variability Gauge Study ResultsJMP Variability Gauge Study ResultsRisultati dello studio sul misuratore di variabilità JMP
JMP Gauge Study ResultsJMP Gauge Study ResultsRisultati dello studio sul misuratore JMP
