Comprendre les principes d'analyse du système de mesure, notamment en comparant Gauge R&R à l'approche EMP (Evaluating the Measurement Process) décrite par Don Wheeler dans le livre EMP III – Using Imperfect Data (2006). Utilisez les données ci-jointes pour vous entraîner à utiliser certaines des techniques présentées.Les données, mises à jour régulièrement, se trouvent également sur boule de neige dorée.com.
Découvrez comment :
- Quantifiez la variation du système de mesure et son impact sur votre processus
- Comprendre les principes de base de l'évaluation des systèmes de mesure
- Comprendre les objectifs et les types d'études de jauge
- Comprendre les considérations à prendre en compte pour mener une étude de jauge : ordre aléatoire des pièces, heure de la journée, confidentialité de l'opérateur, respect des procédures standard, surveillance sans interférer avec les tests.
- Effectuer une étude de jauge continue
- Interpréter le tableau de jauge de variabilité, les mesures R&R de la jauge, les composants de variance pour la jauge R&R
- Exécuter des tests croisés
- Sélectionnez des intervalles de tolérance ou des spécifications (LSL et USL)
- Effectuer une étude de jauge d'attribut
- Interpréter le tableau des attributs de la jauge et les rapports d'accord
- Utiliser la méthode EMP pour obtenir une perspective de corrélation interclasse pour classer un système de mesure
- Interpréter les graphiques de plage, les tracés parallèles, les résultats EMP, la classification des jauges
- Comprendre l'objectif de l'analyse des processus : déterminer si le processus est régulier, stable et prévisible afin que vous puissiez l'utiliser pour surveiller les performances futures et/ou évaluer l'impact des changements sur le processus.
- Examinez la voix du processus : le processus est-il sous contrôle et présente-t-il un écart minimal ?
- Examinez la voix du client : le processus produit-il de bonnes/meilleures pièces conformes aux spécifications ?
- Utiliser Control Chart Builder pour examiner la capacité du processus
- Interpréter les graphiques à plage individuelle et mobile, les résumés de limites, les graphiques XBar et R, l'analyse de la capacité des processus
- Comprendre l'objectif des cartes de contrôle multivariées introduites dans JMP 15 : identifier deux ou plusieurs variables de processus interdépendantes où l'interrelation peut avoir un impact sur la capacité du processus, même si les processus individuels peuvent apparaître sous contrôle.
Ressources
JMP Variability Gauge Study OptionsJMP Variability Gauge Study OptionsOptions d'étude de la jauge de variabilité JMP
JMP Variability Gauge Study ResultsJMP Variability Gauge Study ResultsRésultats de l'étude sur la jauge de variabilité JMP
JMP Gauge Study ResultsJMP Gauge Study ResultsRésultats de l'étude sur les jauges JMP
