nav[aria-label="Primary Navigation"] { padding: 0; & ul { list-style: none; width: 100%; display: flex; flex-direction: row; justify-content: start; align-items: start; gap: 30px; padding: 0; & li { margin: 0; } & ul li { list-style: none; } } }

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使用 MSA 和 SPC 評估和監控您的流程

了解測量系統分析原理，包括將量具 R&R 與 Don Wheeler 在《EMP III – 使用不完美資料》(2006 年) 書中所述的 EMP（評估測量過程）方法進行比較。使用隨附的數據來練習使用所提供的一些技術。定期更新的數據也可以在以下位置找到： Goldensnowball.com。

請參閱如何：

量化測量系統變化及其對過程的影響
了解基本測量系統評估原則
了解量規研究的目的和類型
了解進行量具研究的注意事項：隨機零件訂單、一天中的時間、操作員機密性、遵循標準程序、監控但不干擾測試
執行連續測量研究
- 解釋變異量規圖表、量規 R&R 測量、量規 R&R 的變異數分量
- 運行交叉測試
- 選擇公差區間或規格（LSL 和 USL）
執行屬性量表研究
- 解釋儀表屬性圖、協定報告
使用EMP方法實現類間相關性視角對測量系統進行分類
- 解釋範圍圖、平行圖、EMP 結果、儀表分類
了解製程篩選的目的：確定製程是否穩定、穩定且可預測，以便您可以使用它來監控未來的效能和/或評估變化對製程的影響
- 檢查流程的聲音：流程是否受控並表現出最小的差異？
- 檢查客戶的聲音：流程是否生產出符合規格的優質/最佳零件？
使用控製圖產生器檢查製程能力
- 解釋單一圖和移動極差圖、極限摘要、XBar 和 R 圖、製程能力分析
了解 JMP 15 中引入的多變量控製圖的目的：識別兩個或多個相互關聯的過程變量，其中相互關係可能會影響過程能力，儘管各個過程可能出現在控制中

資源

監控複雜的製造過程網路研討會
解決工業問題的統計思維：品質方法模組
從錯誤中學習—第 4 部分：您的測量結果可信嗎？部落格作者：JMP 系統工程師 Jerry Fish。
圖書
- EMP III（評估測量過程）：使用不完美的數據作者：唐納德·J·惠勒，2006 年
- 製成品品質的經濟控制作者：沃爾特·A·休哈特，2002
- 統計過程控制的高級主題：休哈特圖表的力量作者：唐納德·J·惠勒，2004 年

JMP Variability Gauge Study OptionsJMP Variability Gauge Study OptionsJMP 變異量規研究選項

JMP Variability Gauge Study ResultsJMP Variability Gauge Study ResultsJMP 變異量規研究結果