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使用 MSA 和 SPC 评估和监控您的流程

了解测量系统分析原理，包括将量规 R&R 与 Don Wheeler 在《EMP III – 使用不完美数据》(2006 年) 书中描述的 EMP（评估测量过程）方法进行比较。使用随附的数据来练习使用所提供的一些技术。定期更新的数据也可在以下位置找到： Goldensnowball.com。

请参阅如何：

量化测量系统变化及其对过程的影响
了解基本测量系统评估原则
了解量规研究的目的和类型
了解进行量规研究的注意事项：随机零件订单、一天中的时间、操作员机密性、遵循标准程序、监控但不干扰测试
执行连续测量研究
- 解释变异量规图表、量规 R&R 测量、量规 R&R 的方差分量
- 运行交叉测试
- 选择公差区间或规格（LSL 和 USL）
执行属性量表研究
- 解释仪表属性图、协议报告
使用EMP方法实现类间相关性视角对测量系统进行分类
- 解释范围图、平行图、EMP 结果、仪表分类
了解过程筛选的目的：确定过程是否稳定、稳定和可预测，以便您可以使用它来监控未来的性能和/或评估变化对过程的影响
- 检查流程的声音：流程是否受控并表现出最小的差异？
- 检查客户的声音：流程是否生产出符合规格的优质/最佳零件？
使用控制图生成器检查过程能力
- 解释单个图和移动极差图、极限摘要、XBar 和 R 图、过程能力分析
了解 JMP 15 中引入的多变量控制图的目的：识别两个或多个相互关联的过程变量，其中相互关系可能会影响过程能力，尽管各个过程可能出现在控制中

资源

监控复杂的制造过程网络研讨会
解决工业问题的统计思维：质量方法模块
从错误中吸取教训——第 4 部分：您的测量结果可信吗？博客作者：JMP 系统工程师 Jerry Fish。
图书
- EMP III（评估测量过程）：使用不完美的数据作者：唐纳德·J·惠勒，2006 年
- 制成品质量的经济控制作者：沃尔特·A·休哈特，2002
- 统计过程控制的高级主题：休哈特图表的力量作者：唐纳德·J·惠勒，2004 年

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