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工業問題解決的統計思維
在本視頻中，我們展示瞭如何使用 X 和 Y 坐標創建地理地圖。 坐標可以是緯度和經度，也可以是二維空間中的位置。
首先，我們展示如何使用緯度和經度創建地理地圖地理銷售數據。
此文件包含美國西部一家公司的銷售信息。 有 9 個州和 109 家商店的數據。
首先，我們從圖形菜單。
客戶信息組包括每個商店的地理信息。
我們同時拖動緯度和經度進入圖框的中間並移除平滑器。 109 家商店中的每家都有一個積分。
要添加地理地圖，我們在圖表中間單擊鼠標右鍵，然後選擇圖形接著背景圖.
有許多背景地圖選項。 例如，我們可以添加簡單或詳細的背景圖像。 在這裡，我們選擇簡單的地球然後選擇美國各州畫出各州的邊界。
當我們點擊好的，您會看到美國西部的背景圖像，對應於緯度和經度，並且您會看到每個州的邊界。
如果您已連接到 Internet，您可以連接到地圖服務，而不是添加背景圖像。
我們重複上面的步驟，這次我們選擇街道地圖服務. 這將我們連接到 Open Street Map 服務器。 當我們點擊好的，我們又看到了一張地圖。
但是，借助街道地圖服務器，我們現在可以使用放大鏡工具深入到城市或街道級別。我們將按住 Ctrl 鍵（或 Mac 上的 Command）並單擊幾次以縮小。
使用地理地圖，我們現在可以添加顏色、根據列的值調整點的大小，甚至可以創建格子圖。
如果您的數據集有 X 和 Y 坐標而不是緯度和經度怎麼辦？
例如，考慮文件晶圓堆疊小型.jmp . 這是來自半導體行業的數據。 該文件包括晶圓和裸片的測量值。 晶圓是批量生產的，每個晶圓內有 1423 個芯片位置。 每個模具內的位置具有 X 和 Y 坐標。 我們感興趣的是可視化每個模具位置的缺陷數量。
為了創建晶圓圖，我們再次從圖形菜單。
我們拖Y_模具到是區域，拖動X_Die到X區，然後取下平滑劑。 每個位置都有一個點。
為了查看所有批次和晶圓的整體缺陷模式，我們拖動缺陷到顏色區域，然後單擊熱圖圖標以將其顯示為熱圖。
您可以看到，總體而言，缺陷數量較多的位置往往位於晶圓的頂部和底部。
讓我們分解一下很多. 我們拖很多到裹區。 現在，我們可以看到不同批次的缺陷模式。
例如，平均而言，批次 1 和 2 的缺陷很少，而批次 4 的晶圓周邊缺陷數量較多。
