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工业问题解决的统计思维
在本视频中，我们展示了如何使用 X 和 Y 坐标创建地理地图。 坐标可以是纬度和经度，也可以是二维空间中的位置。
首先，我们展示如何使用纬度和经度创建地理地图地理销售数据。
此文件包含美国西部一家公司的销售信息。 有 9 个州和 109 家商店的数据。
首先，我们从图形菜单。
客户信息组包括每个商店的地理信息。
我们同时拖动纬度和经度进入图框的中间并移除平滑器。 109 家商店中的每家都有一个积分。
要添加地理地图，我们在图表中间单击鼠标右键，然后选择图形接着背景图.
有许多背景地图选项。 例如，我们可以添加简单或详细的背景图像。 在这里，我们选择简单的地球然后选择美国各州画出各州的边界。
当我们点击好的，您会看到美国西部的背景图像，对应于纬度和经度，并且您会看到每个州的边界。
如果您已连接到 Internet，则可以连接到地图服务，而不是添加背景图像。
我们重复上面的步骤，这次我们选择街道地图服务. 这将我们连接到 Open Street Map 服务器。 当我们点击好的，我们又看到了一张地图。
但是，借助街道地图服务器，我们现在可以使用放大镜工具深入到城市或街道级别。我们将按住 Ctrl 键（或 Mac 上的 Command）并单击几次以缩小。
使用地理地图，我们现在可以添加颜色、根据列的值调整点的大小，甚至可以创建格子图。
如果您的数据集有 X 和 Y 坐标而不是纬度和经度怎么办？
例如，考虑文件晶圆堆叠小型.jmp . 这是来自半导体行业的数据。 该文件包括晶圆和裸片的测量值。 晶圆是批量生产的，每个晶圆内有 1423 个芯片位置。 每个模具内的位置具有 X 和 Y 坐标。 我们感兴趣的是可视化每个模具位置的缺陷数量。
为了创建晶圆图，我们再次从图形菜单。
我们拖Y_模具到是区域，拖动X_Die到X区，然后取下平滑剂。 每个位置都有一个点。
为了查看所有批次和晶圆的整体缺陷模式，我们拖动缺陷到颜色区域，然后单击热图图标以将其显示为热图。
您可以看到，总体而言，缺陷数量较多的位置往往位于晶圆的顶部和底部。
让我们分解一下很多. 我们拖很多到裹区。 现在，我们可以看到不同批次的缺陷模式。
例如，平均而言，批次 1 和 2 的缺陷很少，而批次 4 的晶圆周边缺陷数量较多。
