产量、统计数据和 JMP 产量 JMP：用于提高产量的统计工具...良率、统计数据和 JMP 良率 JMP：用于提高半导体行业良率的统计工具
Francois Bereget，Ippon Innovation；亚历山大·库尔瓦特，Soitec
半导体是一个非常复杂的行业，涉及数百个操作（工艺阶段）和数百个参数，产品对小至 0.1 微米的颗粒敏感，并且正在使用前沿技术。 SOITEC 正在制造基于 SOI（绝缘体上硅）技术的衬底晶圆，为主要芯片制造商提供低消耗和高性能的原材料。 在大批量晶圆厂中，客户对质量的要求非常高，新的工艺控制工具是必要的，以便快速检测任何有缺陷的工艺工具，并找到与某些工艺阶段相关的复杂良率问题的根本原因，但不依赖于工具。 良率工程师的关键要求是具有两个特征的统计工具：足够自动化，可以快速突出一组非常有限的工艺参数（数百个），这些参数会导致良率损失；交互性足够，能够在考虑“工程”的情况下调整分析知识”。 选择 JMP 软件有 3 个原因：它使用适应半导体复杂性的先进统计方法，非常用户友好，所有工程师都可以轻松执行附加统计，它包括强大的编程语言 JSL，用于开发数千个自动分析输入和输出参数。
JSL
