Hola,
A un cliente le gustaría tener alguna guía sobre cómo usar JMP para estimar la energía de activación
y coeficiente de corriente según el modelo de Arrenius. Este cliente utilizaba anteriormente Reliasoft ALTA para este propósito. Sería genial tener una respuesta hasta el final de esta semana 
Gracias por adelantado,
Salud,
Valerie
Hola a todos,
Gracias, otra pregunta:
El tipo de parcelas que utilizamos cuando informamos tiempos de vida de desgaste para los láseres de semiconductores es el
parcela de distribución en condiciones de uso.
Pregunta 1 : De "Fit Life by X": ¿puedo usar la energía de activación del modelo para volver a calcular todos los tiempos de falla?
a condiciones de uso típicas (necesidad de generar una nueva columna con datos) para generar un diagrama de distribución (ver ejemplo a continuación).
¿Es eso fácilmente accesible en JMP?
Por lo general, se vería así en Reliasoft ALTA. Una buena función en ALTA era que podía elegir la unidad (horas / días / años) en
La escala de tiempo presentada. Los tiempos de vida acelerados se miden normalmente en horas, pero el tiempo de vida en condiciones de uso es
Más interesante en años.
La prueba de vida acelerada consistiría típicamente en varias temperaturas y corrientes.
Tiempo para fallar ~ I ^ N * exp (Ea / (Kb * T))
Dónde
Yo es el actual
N es el exponente actual
T es la temperatura (K)
Los coeficientes de corriente reportados (N) en la literatura están en el rango de 2-4 para láseres semiconductores.
Pregunta 2: ¿Puede JMP estimar N?
En ALTA puede elegir entre el modelo "Arrenius" o el modelo "Temperatura no térmica",
Lo que luego me daría una tabla que incluye: Ea, N, sigma, µ incluyendo límites de confianza.
Estos cuatro parámetros normalmente se incluirían en el informe de confiabilidad presentado a los clientes.
Prácticamente, a menudo elige "bloquear" N = 2 para obtener una predicción más confiable sobre TTF en el análisis final, pero siempre quiero
ejecute un modelo completo para confirmar que los nuevos pozos cuánticos láser y el diseño del material mostrarían N ~ 2.
Un ejemplo, a continuación, se encuentra la mediana del tiempo hasta fallas para diferentes grupos de estrés (los datos provienen de un producto antiguo, que ya no está en el mercado)
Sería un buen ahorro de tiempo si pudiera obtener los gráficos del diagrama de distribución debajo de la tabla sin tener que calcular el "TTF corregido"
a corriente típica (7mA) y temperatura (371K). En un análisis real, la gráfica de distribución incluye todos los láseres en la prueba, no la mediana de TTF para cada grupo.
