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몬테카를로 시뮬레이션을 이용한 수율 개선 결정 지표 구축_Jeffrey Yang

연사: 제프리 양, Micron Semiconductor 수석 엔지니어링 관리자

 

연설 주제: Monte Carlo 시뮬레이션을 사용하여 수율 개선 결정 메트릭 설정

 

요약:

LSI 테스트 산업에서는 특히 백엔드 작업에서 잘못된 오류를 줄여 수율을 개선해야 하는 과제가 항상 있습니다. 한편으로 고객은 정시 배송을 점점 더 요구하고 있습니다. 한편, 고객의 품질 기준을 충족하면서 각 단일 다이의 비용을 절감해야 한다는 엄청난 압력이 있습니다. 균형 메트릭을 찾는 것은 엔지니어링 팀이 결정을 내리는 데 있어 핵심 포인트가 됩니다. Monte Carlo 시뮬레이션은 이 문제를 효과적으로 해결할 수 있지만 종종 엔지니어는 이 접근 방식을 채택할 적절한 도구가 부족합니다. 코딩과 알고리즘이 처음인 경우에도 JMP Pro가 도움이 될 수 있습니다. 이 문서에서는 JMP Pro를 사용하여 Monte Carlo 시뮬레이션을 수행하여 생산 도구(소켓 비활성화율 등) 및 운영 KPI(UPH, 수율, 회수율 등)에 적합한 방법을 찾는 방법을 설명합니다. 시뮬레이션 결과는 레이더 차트에 반영되어 엔지니어에게 균형점을 판단하고 필요에 따라 레시피를 조정할 수 있는 동적 보기를 제공합니다. 제품 포트폴리오와 결합된 일련의 레이더 지표를 공식화하고 공식 조정을 구현함으로써 터미널 생산의 전체 수율을 개선하는 데 도움이 됩니다.

 

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