半导体大批量生产中的生产线控制（2020-EU-45MP-472）级别：中级
Soitec数据工程师Guillaume BUGNON
Soitec收益经理StéphaneASTIE
半导体公司在制造成本和质量上一直面临挑战。有效的良率管理系统是检测生产线漂移并最大程度减少废料以降低晶圆成本和质量影响的关键。自2007年以来，JMP通过提供易于使用的工具来可视化设备数据与产品产量数据，从而帮助Soitec提高了产量。2010年为收益小组开发了用于执行一组适合于响应分布的性质（正常，非正常，二进制）的统计测试的方法，以找到问题的根本原因（Yield Guard专用的JMP / JSL应用程序） 。在多种产品和完整的晶圆厂环境中，数据质量和实时分析对于准确确定漂移根本原因至关重要。IT和收益团队之间的敏捷协作使我们能够开发自动工具来实现这些目标，从而控制我们的生产线。我们将很自豪地介绍我们从数据收集到数据分析的方法。该演示将与JMP和JSL代码交互完成。
爆发数据访问与操作数据可视化JSL应用程序开发
