半導體大批量製造中的生產線控制 (2020-EU-45MP-472)等級：中級
Guillaume BUGNON，Soitec 資料工程師
Stephen ASTIE，Soitec 產量經理
半導體公司不斷面臨製造成本和品質的挑戰。 有效的良率管理系統是檢測生產線漂移並最大程度地減少廢品以降低晶圓成本和品質影響的關鍵。 自 2007 年以來，JMP 透過提供易於使用的工具來視覺化設備數據與產品產量數據，幫助 Soitec 提高產量。 2010 年，產量團隊開發了用於執行一組適應響應分佈性質（正態、非常態、二元）的統計測試的方法，以找到問題的根本原因（Yield Guard 專用 JMP/JSL 應用程式） … … 在多種產品和完整的晶圓廠環境中，數據品質和即時分析對於準確確定漂移根本原因至關重要。 IT 和產量團隊之間的敏捷協作使我們能夠開發自動化工具來實現這些目標，從而控制我們的生產線。 我們很自豪地展示我們從數據收集到數據分析的方法。 該演示將使用 JMP 和 JSL 程式碼以互動方式完成。
爆發資料存取和操作數據視覺化JSL應用程式開發
