半導體大批量製造中的生產線控制 (2020-EU-45MP-472)級別：中級
SOITEC 數據管理工程師 Bugnon Guillaume
Baptiste Follet，Soitec 產量工程師
Stephane Astie，SOITEC 收益經理
半導體公司在製造成本和質量方面不斷受到挑戰。 有效的良率管理系統是檢測線漂移和最大限度減少廢品以降低晶圓成本和質量影響的關鍵。 自 2007 年以來，JMP 通過提供易於使用的工具來可視化設備數據與產品產量數據，幫助 Soitec 提高產量。 2010 年開發了用於執行一組適應響應分佈性質（正態、非正態、二進制）的統計測試的方法，供收益團隊找出問題的根本原因（Yield Guard 專用 JMP/JSL 應用程序） . 在多種產品和完整的晶圓廠環境中，數據質量和實時分析對於準確確定漂移根本原因至關重要。 IT 和產量團隊之間的敏捷協作使我們能夠開發一種自動化工具來實現這些目標，從而控制我們的生產線。 我們將很自豪地介紹我們從數據收集到數據分析的方法。 演示將使用 JMP 和 JSL 代碼以交互方式完成。
爆發數據探索數據可視化
