Level: Mittelstufe
Laura Lancaster, JMP Principal Research Statistician-Entwicklerin, SAS
Jianfeng Ding, Senior Research Statistician Entwickler, JMP
Im Zeitalter von Big Data und komplexer Fertigung gibt es oft eine enorme Menge von Prozessdaten, die überwacht und analysiert werden müssen, um die Qualität aufrechtzuerhalten oder zu verbessern. JMP verfügt über mehrere Tools, mit denen der Analyst den Umfang seiner Prozessüberwachung schnell und effizient steigern kann. Mit der Process Screening-Plattform können Benutzer Prozesse auf einfache Weise auf Stabilität und Leistungsfähigkeit prüfen und sich auf Prozesse konzentrieren, die verbessert werden müssen. Die Plattform berechnet zunächst einen zusammenfassenden Bericht auf der Grundlage von Regelkarten-, Fähigkeits- und Stabilitätsberechnungen und erstellt mehrere Diagramme zur schnellen visuellen Beurteilung des Prozesszustands. Basierend auf diesen ersten Ergebnissen ist es einfach, die Prozesse auszuwählen, die Aufmerksamkeit benötigen, und sie mit Zugriff auf Control Chart Builder und Process Capability ausführlicher zu untersuchen. Mit der in JMP 15 neu eingeführten MDMCC-Plattform (Model Driven Multivariate Control Chart) können Benutzer große Mengen hoch korrelierter Prozesse überwachen. Diese Plattform kann in Verbindung mit den PCA- und PLS-Plattformen verwendet werden, um multivariate Prozessschwankungen im Zeitverlauf zu überwachen, erweiterte Warnungen zu Prozessverschiebungen anzuzeigen und mögliche Ursachen für Prozessänderungen vorzuschlagen. Anhand von Fallstudien zeigen wir, wie mit JMP viele Prozesse überwacht und analysiert werden, um eine schnelle und effiziente Verbesserung zu erreichen.
