Nivel: intermedio
Laura Lancaster, JMP Desarrollador estadístico principal de investigación, SAS
Jianfeng Ding, Desarrollador Estadístico Senior de Investigación, JMP
En esta era de big data y fabricación compleja, a menudo hay una enorme cantidad de datos de proceso que deben ser monitoreados y analizados para mantener o mejorar la calidad. JMP tiene varias herramientas para ayudar al analista a aumentar de manera rápida y eficiente la escala de la supervisión de sus procesos. La plataforma Process Screening permite a los usuarios escanear fácilmente los procesos en busca de estabilidad y capacidad y les permite centrar la atención en los procesos que necesitan mejoras. La plataforma inicialmente calcula un informe resumido basado en el cuadro de control, la capacidad y los cálculos de estabilidad, y crea varios gráficos para una evaluación visual rápida del estado del proceso. En base a estos resultados iniciales, es fácil seleccionar los procesos que requieren atención y explorarlos más a fondo con el acceso a Control Chart Builder y a la capacidad de proceso. La plataforma Model Driven Multivariate Control Chart (MDMCC), nueva en JMP 15, permite a los usuarios monitorear grandes cantidades de procesos altamente correlacionados. Esta plataforma se puede usar junto con las plataformas PCA y PLS para monitorear la variación de proceso multivariante a lo largo del tiempo, dar advertencias avanzadas de cambios de proceso y sugerir causas probables de cambios en el proceso. Usaremos estudios de casos para demostrar cómo usar JMP para monitorear y analizar muchos procesos para una mejora rápida y eficiente.
