EMP 게이지 R & R-재현성 = 0 %안녕!
EMP Gauge R & R을 실행했으며 결과는 재현성에서 비롯된 총 변형이 0 %임을 보여줍니다. 그러나 데이터를 볼 때 연산자 간 동일한 샘플의 측정 변수에 상당한 차이가 있으므로 재현성 변동이 0 % 인 방법을 이해할 수 없습니다.
누구든지 도와 줄 수 있습니까?
미리 감사합니다
알리시아
재 : EMP 게이지 R & R-재현성 = 0 %안녕하세요 알리시아
EMP 플랫폼에서 입력 마스크의 인쇄 화면을 만들 수 있습니까?
재 : EMP 게이지 R & R-재현성 = 0 %안녕하세요 마우로,
이것이 당신이보고 싶었던 것입니까?
친애하는,
알리시아
재 : EMP 게이지 R & R-재현성 = 0 %X 그룹화에는 연산자와 샘플이 모두 필요합니다. 데이터 세트를 첨부 할 수 있습니까? 각 샘플 / 운영자에 대해 반복적 인 측정을 했습니까? 그것없이 정확한 반복성을 어떻게 평가할 수 있습니까? 이 경우 연산자와 샘플이 교차되고 반복 된 측정 값이 중첩됩니다.
재 : EMP 게이지 R & R-재현성 = 0 %안녕, 첨부 데이터를 참조하십시오. 예, 반복 측정이 사용되었습니다. 각 작업자 A, B 및 C는 샘플 1-10을 두 번 테스트했습니다. 미리 도와 주셔서 감사합니다
재 : EMP 게이지 R & R-재현성 = 0 %먼저 열을 추가하고 측정 정밀도 (연속 번호 1-60)의 반복성 구성 요소를 나타 내기 위해 측정이라고했습니다. 그런 다음 JMP EMP (측정 시스템 분석) 및 변동 차트 / 관리 차트 (첨부 문서 요약 분석)를 사용하여 데이터를 분석했습니다. 솔직히 말해서, EMP 플랫폼이 연산자 구성 요소가 너무 작아서 0 %의 재현성을 제공하는 이유를 모르겠습니다. 어쩌면 0으로 반올림 했습니까? 아마도 JMP 담당자가 이것을 설명 할 수 있습니까? 나는 구식이라고 생각하지만 Don Wheeler의 권장 사항에 따라 분석을 수행합니다. 수년 전에 그에게서 배운 것입니다. Wheeler & Lyday : "측정 프로세스 평가"를 참조하십시오.
재 : EMP 게이지 R & R-재현성 = 0 %알겠습니다. 음수 REML ... JMP가 베이지안 추정치로 전환 한 이유는 ...
재 : EMP 게이지 R & R-재현성 = 0 %연산자 분산 성분이 음수이므로 0으로 설정되었습니다. Fit Model을 통해이를 확인할 수 있습니다.
Fit Model(
Y( :Impact Strength ),
Effects,
Random Effects( :Sample, :Operator, :Sample * :Operator ),
NoBounds( 1 ),
Personality( "Standard Least Squares" ),
Method( "REML" ),
Emphasis( "Minimal Report" ),
Run(
:Impact Strength << {Summary of Fit( 1 ), Analysis of Variance( 0 ), Parameter Estimates( 1 ),
Scaled Estimates( 0 ), Plot Actual by Predicted( 0 ), Plot Regression( 0 ),
Plot Residual by Predicted( 0 ), Plot Studentized Residuals( 0 ), Plot Effect Leverage( 0 ),
Plot Residual by Normal Quantiles( 0 )}
)
);
EMP Gauge R & R 결과 보고서에 제공된 재현성 값 상호 작용을 포함하지 않으며 음의 분산 성분이 0으로 설정됩니다.
재 : EMP 게이지 R & R-재현성 = 0 %도움이되는 답변에 감사드립니다. 이것은 지금 나에게 의미가 있습니다. 정말 감사합니다!
재 : EMP 게이지 R & R-재현성 = 0 %스크립트에 감사드립니다 ... 정말 도움이되었습니다!
