다른 열의 값 위치를 기반으로 한 열의 값 반환장치가 로트, 웨이퍼 및 다이로 식별되는 데이터 세트가 있습니다. 각 부분에는 여러 테스트가 있을 수 있습니다. 테스트 날짜 열을 검색하여 각 다이에서 마지막 테스트가 실행된 시간을 찾을 수 있습니다. 그런 다음 pass_fail 열에서 마지막 테스트의 상태가 다음과 같이 무엇인지 알아야 합니다.
:PASS_FAIL[ 열 최대 행(:TEST DATE, :LOTID, :WAFER, :DIE)]
그래프 빌드에서 각 다이에 대한 마지막 테스트의 상태를 기반으로 통과/실패 웨이퍼 맵을 생성하는 데 사용할 수 있는 공식을 기대하고 있습니다.
Re: 다른 열의 값 위치를 기반으로 한 열의 값 반환더 나은 솔루션:
그래프 빌더에서 변환 수식을 만듭니다.
:TEST DATE == Col Maximum(:TEST DATE, :LOTID, :WAFER, :DIE)
그런 다음 데이터 필터를 추가하여 변환 = 1, 하위 집합이 필요하지 않은 위치를 선택합니다.
Re: 다른 열의 값 위치를 기반으로 한 열의 값 반환dt << Select Where( :Test Date == Col Maximum(:TEST DATE, :LOTID, :WAFER, :DIE))
Re: 다른 열의 값 위치를 기반으로 한 열의 값 반환신경 쓰지 마세요. 열을 추가하여 열 최대값을 계산한 다음 테스트 날짜가 각 다이의 열 최대 테스트 날짜와 일치하는 위치를 선택한 다음 선택한 행에서 데이터의 하위 집합을 만들 수 있습니다.
