배포 플랫폼은 JMP에서 가장 널리 사용되는 플랫폼 중 하나입니다.이 플랫폼은 데이터에 적합한 분포를 테스트하는 데만 사용되는 것이 아닙니다. 또한 데이터 탐색, 기능 분석 등에 사용됩니다. 배포는 JMP의 첫 번째 버전부터 있었고 현대화할 때였습니다.JMP 15 이 일반적으로 사용되는 플랫폼의 현대화를 제공했습니다.
내 첫 번째 블로그 게시물 JMP 15의 새로운 피팅에 관한 것입니다. 두번째 블로그 게시물 상세한 비교 분포 적합도. 세 번째 블로그 게시물 적합 분포에 대한 새로운 옵션을 다루었습니다. 이 블로그 게시물에서는 배포 플랫폼의 새로운 기능 옵션에 대해 설명합니다.
역사
그만큼 공정 능력 플랫폼은 JMP 12에서 도입되었습니다. 이 새로운 플랫폼의 일부는 플랫폼이 도입되었을 때 JMP 12의 관리도 작성기에 추가되었습니다. 이제 JMP 15 , 플랫폼의 일부가 배포 플랫폼에 추가되었습니다. 이렇게 하면 플랫폼을 유지하기가 더 쉬워질 뿐만 아니라 서로 일관성이 있습니다.
변경 사항 실행
배포 보고서 시작과 관련하여 발생하는 몇 가지 차이점이 있습니다. 1) Spec Limits 열 속성에서 "Show as Graph Reference Lines"를 선택한 경우에만 히스토그램에 사양 한계가 표시됩니다. 2) 사양 제한 열 속성이 있는 경우에도 공정 능력 분석을 비활성화하는 기능. 3) 공정 능력 분포 열 속성이 있는 경우 해당 분포가 능력 분석에 사용됩니다.
예를 들어 샘플 데이터 폴더에 있는 Process Measurements.jmp를 엽니다.
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Process Measurements.jmp");
이러한 새 기능을 조사할 수 있도록 다음 JSL을 실행하여 열 속성을 설정합니다.
Column(dt, "Process 2")<<SET property=""></SET>
프로세스 2의 경우 위의 JSL은 Spec Limits 열 속성을 LSL=5, Target=10 및 USL=17로 설정하고 표시 제한(그래프 참조선으로 표시)을 켭니다. Process 3의 경우 위의 JSL은 Process Capability Distribution 속성을 Weibull로 설정합니다.
분석->배포를 선택하고 프로세스 1, 프로세스 2 및 프로세스 3을 Y 열로 지정합니다.
왼쪽 하단 모서리에 있는 새 확인란("프로세스 기능 생성")을 확인하십시오. 이 확인란은 하나 이상의 Y, 열에 사양 제한 열 속성이 있는 경우에만 나타납니다. 이 상자를 선택 취소하고 확인을 클릭하십시오.
이전 버전에서는 JMP 이 "프로세스 기능 생성" 확인란이 없는 경우 이러한 세 프로세스 각각에 대한 기능 분석을 얻게 됩니다. 또한 각 열에는 사양 제한 열 속성이 포함되어 있으므로 3개의 히스토그램 각각에 사양 제한이 표시됩니다.JMP 15에서는 다음과 같은 결과를 얻습니다.
어떤 공정 변수에 대해서도 공정 능력 분석이 제공되지 않습니다. 사양 제한 열 속성에서 "그래프 참조선으로 표시"가 선택된 유일한 프로세스 변수였기 때문에 프로세스 2에만 히스토그램에 대한 사양 제한이 포함되어 있습니다.
이제 "프로세스 기능 생성" 상자를 선택하고 출력을 비교합니다. 분석->배포로 이동합니다. 회수를 클릭합니다."프로세스 기능 생성" 상자를 선택합니다. 확인을 클릭합니다.
공정 능력 분석은 세 가지 프로세스 변수 모두에 대해 제공됩니다. 기본 히스토그램(상단)에서 사양 제한은 프로세스 2에 대해서만 표시됩니다. 공정 3에 대한 공정 능력 분석은 공정 3에 Weibull 공정 공정 능력 분포 열 속성이 있기 때문에 Weibull 분포를 기반으로 합니다.
기능 보고서
기능 보고서는 에서 개별 세부 보고서 옵션을 사용하여 얻을 수 있는 보고서와 동일하게 보이고 옵션이 동일합니다. 공정 능력 . 이를 통해 일관되고 유지 관리가 쉬워졌을 뿐만 아니라 일부 사용자 요청을 완료할 수 있었습니다.
- Ppk 레이블 지정은 이제 전체 시그마 기능 보고서의 기본 레이블 지정입니다(이전 이미지 참조).
- 이제 보고서는 정규 분포를 가정할 때 항상 내부 및 전체 시그마 공정 능력 지수를 모두 표시합니다(이전 이미지 참조).
사양 제한 열 속성이 없는 경우 기능 명령
이전 버전의 배포 플랫폼에서와 마찬가지로 사양 제한 열 속성이 없을 때 공정 능력 분석에 액세스하는 두 가지 방법이 있습니다. Quality Control 샘플 데이터 폴더에 있는 Thickness.jmp를 엽니다.
Open("$SAMPLE_DATA/Quality Control/Thickness.jmp");
분석->배포를 선택합니다. 두께 03 및 두께 04를 Y, 열로 선택하고 확인을 클릭합니다. Thickness 03 옆의 빨간색 삼각형을 클릭하고 Process Capability를 선택합니다.
이러한 옵션은 공정 능력 플랫폼. 대화 상자는 단순히 다르게 배열됩니다.
공정 능력 분석을 얻는 다른 방법은 적합 분포를 이용하는 것입니다. 두께 04 옆의 빨간색 삼각형을 클릭하고 연속 맞춤->베타 맞춤을 선택합니다. 이제 Fitted Beta Distribution 옆에 있는 빨간색 삼각형을 클릭하고 Process Capability를 선택합니다. 기능 대화 상자는 하나의 추가 섹션이 있는 위의 이미지와 동일하게 보입니다.
이러한 옵션은 이전 버전의 배포 플랫폼에 있는 K 시그마에 대한 Quantile 및 Set Spec Limits 옵션을 대체합니다. 분위수 옵션을 사용하면 적합 분포의 분위수와 연관된 확률을 입력하여 규격 한계를 계산할 수 있습니다. 두 번째 방법을 사용하면 사양 한계를 계산하는 데 사용되는 K-시그마 승수 값을 입력할 수 있습니다. 이전 예를 사용하여 "Sigma Multiplier를 입력하여 Quantile Spec Limits 계산" 옵션을 선택합니다. 사양 제한 계산 버튼을 클릭하여 3-시그마에 대한 사양 제한을 계산합니다. LSL(0.042954) 및 USL(0.069226)에 대해 3-시그마 값이 채워져 있습니다. 확인을 클릭합니다.
이 새로운 방법을 사용하면 분위수 옵션을 더 쉽게 스크립팅할 수 있습니다. 이전에는 분포를 맞추고 분위수를 가져와 플랫폼으로 다시 전달해야 했습니다(Distribution에 대한 두 번의 호출 필요). 이제 Distribution에 대한 단일 JSL 호출에서 이 작업을 수행할 수 있습니다.
요약
- 사양 제한 없이 히스토그램을 생성하는 기능.
- 공정 능력 분석 없이 분포 보고서를 생성하는 기능.
- 공정 능력 분포 열 속성은 능력 분석에 사용됩니다.
- 적합 분포에 대한 분위수 옵션의 스크립팅이 더 쉬워졌습니다.
- 정규 및 비정규 공정 능력 분석은 유사한 대화 상자와 출력을 사용합니다.
- 플랫폼 간의 일관성.
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