Koichi Endo Verantwortlich für Discrete Product Reliability Technology, Abteilung Discrete Semiconductor Reliability Engineering, Toshiba Device & Storage Corporation
Ricoh Co., Ltd. Hauptsitz des Unternehmens in HC, MI Business Center, General Manager, Büro für Qualitätssicherung und pharmazeutische Angelegenheiten, Motohisa Kanno
In Bezug auf die Zuverlässigkeit in Japan ist die Analyse des Weibull-Wahrscheinlichkeitspapiers der Mainstream, und das Arrhenius-Modell verwendet auch Wahrscheinlichkeitspapier.Auch bei Tests mit mehreren Beschleunigungsfaktoren wird die multivariate Analyse selten verwendet.In diesem Bericht wird zunächst der Missbrauch von Badewannenkurven und Gegenmaßnahmen erläutert.Als Nächstes stelle ich vor, wie nützlich und leistungsfähig die in JMP installierten Methoden zur Analyse von Zuverlässigkeitsdaten sind.
