JMP 15在EMP测量系统分析方面是否存在问题我刚收到JMP 15，并且正在尝试建立EMP测量系统分析（“轮式”方法）。 我始终在日志文件中收到错误消息：
“当处理仪器= A时，发生以下错误：
没有足够的数据来计算过程标准偏差。禁用需要标准偏差的选项。”
当我使用示例数据库中的“ Wafer”文件并运行示例EMP MSA时，我没有得到此信息，因此我怀疑数据表或列属性可能有问题。
对于JMP中的EMP平台，我真的很陌生，如果有人可以帮助我使它运行起来，将不胜感激！
谢谢，
回复：JMP 15在EMP度量系统分析方面是否存在问题每个样本ID x仪器组合中只有1个，这意味着您无法估计重测误差。 该错误与“仪器方差”的“样品ID”混淆。 对于EMP研究，您需要对具有有害因素水平的零件的每个组合进行多个回合。
回复：JMP 15在EMP度量系统分析方面是否存在问题 非常感谢。 我只是从另一个JMP示例中注意到了这一点，并开始进行调查。 您的回应将节省大量时间，并帮助我专注于工作。
