寻找因素的允许限度以确保低缺陷率你好，
任何人都知道我们如何找到一些因素可以运作的允许限制，以维持一定的缺陷率。罗伯特的这段视频实际上展示了如何在假设这些因素呈正态分布的情况下找到最佳设置以实现最低的缺陷率。 我正在寻找的是如何确定为了实现该缺陷率而允许的最大变化是多少。
https://www.jmp.com/en_gb/events/ondemand/explorers/explorers-improving-your-processes-with-statistical-models-video/watch.html#formsuccess
使用历史生产数据来确定制造流程的改进:
估计值
伊尔凡
回复：寻找因素的允许限制以确保低缺陷率没有自动化程序。 这个想法是工程师/科学家使用这个工具来设置不同的场景并评估能力/缺陷。 JMP 无法知道控制因子水平有多容易或困难、便宜或昂贵。
回复：寻找因素的允许限制以确保低缺陷率
嗨马克，
这是我目前正在进行的实验，通常我们使用的方法是使用缺陷日志率来找到因素的最佳设置，但我正在寻找每个因素的最佳SD（例如在这个例子我的正常SIH4 SD = 12，按SD = 0.2，空格SD = 12。 我们知道，当我们收紧因素的标准差时，缺陷率甚至可以进一步降低。 所以我要寻找的是我必须针对所有这 3 个因素运行的 SD 是多少，以便满足我所有 4 个响应（厚度、蚀刻率、均匀度、RI）的规格限制
我知道我们可以“手动”将 SD 调整为 1 倍，看看达到 0% 缺陷率的 SD 是多少，但是有没有一种自动化的方法可以做到这一点
希望这能解释我的问题
估计值
伊尔凡
回复：寻找因素的允许限制以确保低缺陷率我们正在“原地打转”。 您一直告诉我您想确定维持过程能力的因素范围。 我已经解释了如何执行此分析。 我引导您阅读探查器指南中的第 8 章，该章彻底解释并演示了模拟器中的缺陷探查器。什么不清楚？ 你有什么不明白？ 您遇到的具体问题是什么？
回复：寻找因素的允许限制以确保低缺陷率
嗨马克，
我正在阅读有关分析器的书籍手册，并发现了这一点，我正在寻找的是，在当前的响应规范限制下，我应该使用哪些因素限制，从而不会太紧或太松导致许多问题失败
估计值
伊尔凡
回复：寻找因素的允许限制以确保低缺陷率可变性是由您认为自己拥有的控制力来定义的。 仿真后的能力分析将确定该控制是否足够。 如果能力太低，那么您可以返回模拟器并尝试在再次运行模拟之前对一个或多个因素施加更多控制（更少的变化）。 在得出有效的因子范围之前，您可能需要迭代几次。
您阅读了我建议的帮助中的章节吗？
回复：寻找因素的允许限制以确保低缺陷率嗨，马克，
实际上，如果我想确定我的因素的限制是什么，以确保我的所有响应都在规格限制内，有没有办法找到这个？ 从模拟器中，我们实际上指定了因子的变化类型，无论是正态分布、二项分布还是任何其他分布回复：寻找因素的允许限制以确保低缺陷率该视频展示了如何使用预测刻画器来获取因子设置，以最大限度地提高您为每个响应定义的意愿。 该工具有一个内置的蒙特卡罗模拟器，可以解决您当前的问题。 您可以定义固定因素（始终达到所需的设定点）或变量。 您可以使用分布模型（例如正态分布）或使用 JMP 脚本语言的自定义表达式来定义变异。 一些变化是响应固有的，而不是由于因子水平的变化造成的。 此变体是单独添加的。
有关更多详细信息和示例，请参阅帮助 > 书籍 > 刻画器 > 预测刻画器。
