J'ai parcouru les cartes et je ne trouve aucune information ou exemple sur la façon de tabuler une colonne Pass_Fail où j'ai une colonne de 15 tranches différentes. Je peux le faire pour 1 wafer mais je ne comprends pas comment regrouper les wafers, puis tabuler le rendement comme sur l'image ci-dessous. J'ai joint un exemple de tableau.
Merci d'avance
@gzmorgan0
Je ne peux pas vous remercier assez pour ce que vous avez fourni. Le processus de la tabulation m'a fait tourner en rond. J'ai aussi vraiment besoin de vous exprimer ma sincère gratitude pour les cartes de plaquettes. J'ai eu du mal à faire fonctionner la ligne, la colonne, la sous-ligne et le sous-col à l'aide du kit d'outils Semi-Conductor.
Merci encore.
@Yngeinstn ,
Il n'est pas clair comment les colonnes 1 à 32 sont prises en compte dans l'analyse. Doivent-ils être inclus dans le total de réussite et d'échec.Ci-dessous une capture d'écran de :
- Seule la colonne 1. Si 1-32 doit être inclus, une colonne de total peut être nécessaire ou empiler 1-32 comme Mark, @Mark_Bailey , suggéré. Ou la colonne Pass/Fail doit-elle être utilisée à la place ? Si Pass/Fail doit être utilisé, remplacez-le par :1 dans la description ci-dessous.
- Modification de la propriété de la colonne, l'ordre des valeurs pour : 1, 1 (= Réussite) est le premier et 0 (= Échec) le second.
- Colonne modifiée : 1 pour être le type de modélisation Nominal.
- Tabuler , faites glisser Wafer vers la gauche, :1 vers le haut et faites glisser la statistique Row% vers le haut.
- J'ai fait glisser N vers le haut, car en tant que statisticien, je veux toujours connaître N.
Le JSL suit le screenshoot
Tabulate(
Add Table(
Column Table( Statistics( Row % ), Grouping Columns( :Name( "1" ) ) ),
Column Table( Statistics( N ) ),
Row Table( Grouping Columns( :wafer_number ) )
)
)
Le JSL ci-dessous produit un affichage de l'endroit où les défaillances sur la plaquette se produisent, avec la ligne, la colonne et la sous-ligne et la sous-colonne modifiées en type de modélisation Nominal.
Graph Builder(
Variables(
X( :subcol ),
Y( :subrow ),
Page( :wafer_number ),
Group X( :colnum ),
Group Y( :rownum ),
Color( :Name( "Row Pass/Fail" ) )
),
Elements( Points( X, Y, Legend( 7 ) ) ),
SendToReport(
Dispatch( {}, "subcol", ScaleBox, {Label Row( Show Major Grid( 1 ) )} ),
Dispatch( {}, "subrow", ScaleBox, {Label Row( Show Major Grid( 1 ) )} ),
Dispatch(
{},
"400",
ScaleBox,
{Legend Model(
7,
Properties(
0,
{gradient( {Width( 12 ), Reverse Labels( 1 )} )},
Item ID( "Row Pass/Fail", 1 )
)
)}
)
)
)
Ou pour regarder une plaquette agrégée
Graph Builder(
Size( 593, 555 ),
Show Control Panel( 0 ),
Variables(
X( :subcol ),
Y( :subrow ),
Group X( :colnum ),
Group Y( :rownum ),
Color( :Name( "Row Pass/Fail" ) )
),
Elements( Heatmap( X, Y, Legend( 8 ) ) ),
SendToReport(
Dispatch( {}, "subcol", ScaleBox, {Label Row( Show Major Grid( 1 ) )} ),
Dispatch( {}, "subrow", ScaleBox, {Label Row( Show Major Grid( 1 ) )} ),
Dispatch(
{},
"400",
ScaleBox,
{Legend Model(
8,
Properties(
0,
{gradient( {Width( 12 ), Reverse Labels( 1 )} )},
Item ID( "Row Pass/Fail", 1 )
)
)}
)
)
)0
Je suis encore un peu perplexe.. Ci-joint le tableau réel que nous utilisons. J'ai une colonne supplémentaire appelée Row_Pass_Fail qui attribue simplement la réussite/l'échec en fonction des 15 tests.
Merci
Utilisez la commande Tables > Empiler pour combiner les 15 colonnes en une seule colonne et créer automatiquement une colonne d'étiquette (identifier la colonne source d'origine) avant d'utiliser Tabuler.
