嗨友好的 JMPers，
烘焙總是一個挑戰，所以我希望有人能幫助我。
我有一個設計（我不知道如何對其進行分類 - 交叉和嵌套兩種方式裂區設計？）。 而且我不確定如何將更改加載到定制設計中，即使在閱讀了“帶有‘難以改變’和‘非常難以改變’變量的實驗。
這是一個烘焙工藝設計，有四個級別（但其中兩個會被交叉）：
解凍方法（4 級） - 0、1、2、24
烤箱溫度（3 級） - 345、360、375
鬆餅大小（2 級） - 4.5 和 5.4
機架位置（3 級） - 頂部、中間、底部
解凍方法和烤箱溫度大概被稱為“交叉” - 有 12 種組合（4 種解凍方法 x 3 烤箱溫度）
然後我有一個烤箱架，我可以在架子的頂部、中間和底部放置兩個托盤（每個鬆餅尺寸 1 個） - 每個架子有 6 個組合（2 個鬆餅尺寸 x 3 個架子位置）。 機架將始終“嵌套”在 12 種烤箱溫度 x 解凍方法組合之一中。
然後我每天可以烤 3 到 4 個烤架。
我很難理解如何在定制設計中將鬆餅尺寸 x 架子位置設置到烤箱溫度 x 解凍方法中，而不知道在這個複雜的設計中“非常難”和“難”如何工作。 然後我不確定要為整個情節和子情節輸入什麼（因為我看到的每個例子都簡單得多）。
理想情況下，我想在 3 到 4 天內總共烤 12 個架子。 每個機架包含 3 個級別（頂部中間底部）和兩個托盤（4.5 和 5.4 盎司）鬆餅。 每個架子都有一個給定的解凍方法（0,1,2,24）並在一個溫度下烘烤（345,360,375）。 我想要那些隨機的烘焙。 如果我需要添加更多的機架以允許出錯，那也沒關係。
出於可視化目的，我已經繪製並附上了我的設計。
任何幫助將非常感激。
除了因子類型和水平定義之外，您的實驗的關鍵是隨機化。 您現在設置的方式意味著您打算在每次運行（數據表行）中重置鬆餅大小和機架位置，減少烤箱溫度的重置頻率，最後重置解凍方法的頻率最低。
我認為您不應該選擇“難以改變的事實可以獨立於非常難以改變的因素而變化”的選項。 如果你這樣做了，那麼你將不會得到你提到的每次烤箱運行的“嵌套”。
然後，整區、子區和遊程的數量決定了可用於估計關於效應的假設檢驗的方差的自由度。 前兩個級別與隨機化有關。 你展示了 6 個整地塊。 另一種解釋該數字的方法是，您將在實驗期間重置 Thaw Method 6 次。 同樣，您將在實驗期間重置烤箱溫度 12 次。 子圖（烤箱溫度）將嵌套在整個圖（解凍方法）中。
