Livello: intermedio
Donald McCormack, ingegnere abilitazione tecnica JMP, SAS
Hadley Myers, ingegnere di sistemi JMP, SAS
Christian Kaufmann, scienziato principale, centro di competenza a film sottile e nanotecnologie per il fotovoltaico
Muhammad Saif Ullah, ricercatore, Pakistan Institute of Nuclear Science & Technology
Tobias Bertram, ricercatore post dottorato, PVcomB
Rutger Schlatmann, professore, Hochschule für Technik und Wirtschaft
I dati presi attraverso intervalli di misurazione continui sono generalmente espressi come insiemi di statistiche riassuntive, surrogati per relazioni continue con valori reali. I tentativi fatti per comprendere processi complessi attraverso tecniche di modellazione standard che collegano predittori e risposte sono quindi complicati dall'astrazione causata da questi surrogati. Ciò rischia di omettere le caratteristiche critiche e non consente di trarre conclusioni dipendenti dal tempo o dallo spettro. Molti di questi esempi si trovano nella produzione di semiconduttori e fotovoltaici, in cui i progressi dipendono in gran parte dalle conoscenze acquisite dalle tecniche di misurazione e metrologia che implicano una scansione continua di qualsiasi fenomeno fisico, inclusi tensione, lunghezza d'onda, temperatura, profondità di sputtering, intensità del campo magnetico, angolo di diffrazione, eccetera. Il Functional Data Explorer in JMP Pro offre una soluzione in cui è possibile estrarre scalari da dati continui da utilizzare nelle successive fasi di modellazione che mantengono in qualche modo l'aspetto funzionale dei dati. Questa presentazione esplora un caso d'uso in cui FDE è stato utilizzato nello studio dei dispositivi fotovoltaici, rivelando così intuizioni che erano precedentemente sconosciute e che non avrebbero potuto essere scoperte utilizzando i metodi di analisi tradizionali.
