Niveau: intermédiaire
Donald McCormack, ingénieur technique JMP, SAS
Hadley Myers, ingénieur systèmes JMP, SAS
Christian Kaufmann, scientifique principal, Centre de compétence en nanotechnologie et nanotechnologie pour le photovoltaïque
Muhammad Saif Ullah, chercheur, Institut pakistanais des sciences et technologies nucléaires
Tobias Bertram, chercheur postdoctoral, PVcomB
Rutger Schlatmann, professeur, Hochschule für Technik und Wirtschaft
Les données recueillies sur des plages de mesure continues sont généralement exprimées sous forme d'ensembles de statistiques récapitulatives, servant de substituts aux relations continues à valeurs réelles. Les tentatives faites pour comprendre des processus complexes au moyen de techniques de modélisation standard reliant les prédicteurs et les réponses sont alors compliquées par l’abstraction provoquée par ces substituts. Cela risque d'omettre des caractéristiques critiques et ne laisse aucune possibilité de tirer des conclusions dépendantes du temps ou du spectre. On trouve de nombreux exemples de ce type dans la fabrication de semi-conducteurs et de photovoltaïques, où les progrès dépendent largement des connaissances acquises grâce aux techniques de mesure et de métrologie impliquant un balayage continu de tout phénomène physique, notamment la tension, la longueur d'onde, la température, la profondeur de pulvérisation, l'intensité du champ magnétique, l'angle de diffraction, etc. L'Explorateur de données fonctionnelles de JMP Pro offre une solution dans laquelle des scalaires peuvent être extraits de données continues pour être utilisés dans les étapes de modélisation suivantes, tout en conservant l'aspect fonctionnel des données. Cette présentation explore un cas d'utilisation du FDE dans l'étude des dispositifs photovoltaïques, révélant ainsi des informations jusque-là inconnues et qui n'auraient pas pu être découvertes à l'aide des méthodes d'analyse traditionnelles.
