Nivel: intermedio
Donald McCormack, ingeniero de habilitación técnica de JMP, SAS
Hadley Myers, ingeniero de sistemas JMP, SAS
Christian Kaufmann, Científico Principal, Centro de Competencia Thin-Film y Nanotecnología para Fotovoltaica
Muhammad Saif Ullah, investigador, Instituto de Ciencia y Tecnología Nuclear de Pakistán
Tobias Bertram, investigador postdoctoral, PVcomB
Rutger Schlatmann, profesor, Hochschule für Technik und Wirtschaft
Los datos tomados a través de rangos de medición continua generalmente se expresan como conjuntos de estadísticas resumidas, sustitutos de relaciones continuas de valor real. Los intentos de comprender procesos complejos a través de técnicas de modelado estándar que vinculan predictores y respuestas se complican por la abstracción causada por estos sustitutos. Esto corre el riesgo de omitir características críticas y no deja la capacidad de sacar conclusiones dependientes del tiempo o del espectro. Muchos de estos ejemplos se encuentran en la fabricación de semiconductores y fotovoltaicos, donde los avances dependen en gran medida del conocimiento adquirido de las técnicas de medición y metrología que implican un barrido continuo de cualquier fenómeno físico, incluido el voltaje, la longitud de onda, la temperatura, la profundidad de la pulverización, la intensidad del campo magnético, el ángulo de difracción, etc. El Explorador de datos funcionales en JMP Pro ofrece una solución en la que se pueden extraer escalares de datos continuos para utilizarlos en pasos de modelado posteriores que de alguna manera retienen el aspecto funcional de los datos. Esta presentación explora un caso de uso en el que se usó FDE en el estudio de dispositivos fotovoltaicos, revelando ideas que antes eran desconocidas y que no podrían haberse descubierto utilizando métodos de análisis tradicionales.
