JMP のプロセス スクリーニング プラットフォームの強化と拡張 (2019-US-45MP-248)レベル: 中級
Vincent Faller 氏、シニア ソフトウェア エンジニア、Predictum Inc
Karen Biagini、統計学者、KLA Corporation
JMPアドインは、複雑な一連のタスクを日常的に実行する必要があるユーザーにとって非常に実用的です。 クライアント プロジェクトでこのようなタイプのユーザーを支援するために、JMP のプロセス スクリーニング プラットフォームを拡張およびカスタマイズして、KLA の新製品開発アプリケーション向けにさらに包括的にするという課題に取り組みました。 プロセス スクリーニング プラットフォームはカスタマイズされており、いくつかの点で簡素化され、他の点で拡張されています。ユーザーは、ワンボタンですばやく起動して、選択した分析オプションをプロットできます。これには、ドリルダウンして Levey Jennings 管理図、Cpk を含むヒストグラム、およびカスタム P/T 計算を含む変動図を表示することが含まれます。 このカスタム ドリルダウン ビューに加えて、KLA には、斬新な方法でパラメーター全体の視覚的パターンを探すための新しい視覚化も用意されています。このプロジェクトの実装における主な課題は、行除外の自動再計算などの JMP ネイティブ機能を維持しながら、カスタマイズされた機能を確実にサポートすることでした。この講演では、JMP アドイン、KLA の観点からのその使用法と利点、および開発の観点からの設計と実装の洞察について説明します。
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