为什么 JMP Bivariate 不能很好地显示数据点？？？我有个问题。为什么 JMP Bivaruate 不像叠加图那样区分数据？ 在叠加图中，少量的数据点总是出现在前面。这样您就可以清楚、区分地看到不同图例的所有数据点。 但是 Bivariate 很奇怪，因为少量的数据点总是隐藏在下面。
但另一方面，叠加图不提供像双变量那样的选项（例如许多不同的拟合线）。 JMP 太烦人了，缺少 JMP 创建者部分的显而易见性。
回复：为什么 JMP Bivariate 不能很好地显示数据点？？？很公平， @ram_asra_gmail_ ！ 如果我能想到其他任何事情，我一定会告诉您。
顺便说一句，只是为了澄清在其他地方提出的一个观点（因为我想你可能会感兴趣）在 Fit Y by X Bivariate 中点的分层不仅仅是随机的，而是从左到右绘制的。如果勾勒出点的轮廓（右键单击图形 > 标记绘图模式 > 轮廓），然后将它们放大（右键单击图形 > 标记大小 > 其他 > 15+），则最容易看到这一点：
@朱利安
回复：为什么 JMP Bivariate 不能很好地显示数据点？？？感谢朱利安的长回复。但不幸的是，我也知道所有这些技巧，但它不会奏效。 没关系。
回复：为什么 JMP Bivariate 不能很好地显示数据点？？？你好@ram_asra_gmail_ ,
我想我现在明白你在描述什么，但让我重申一下以确保。 叠加图提供如下结果：
Open( "$SAMPLE_DATA\Semiconductor Capability.jmp" );
Overlay Plot( X( :NPN2 ), Y( :NPN1 ), Grouping( :SITE ), Overlay Groups, :NPN1( Connect Color( 40 ), Overlay Marker( 8 ) ) );
您更喜欢哪个，因为每个组（示例中的站点）的标记存在于彼此堆叠的层中。 换句话说，所有 Site 5 标记都将绘制在 Site 4 标记之上，而 Site 4 标记将全部绘制在 Site 3 标记之上，等等。如您所见，Graph Builder 执行相同操作：
Open( "$SAMPLE_DATA\Semiconductor Capability.jmp" );
Graph Builder( Show Control Panel( 0 ),
Variables( X( :NPN2 ), Y( :NPN1 ), Overlay( :SITE ) ),
Elements( Points( X, Y, Legend( 5 ) ) )
);
但是，由于我稍后会澄清的原因，Fit Y by X 的 Bivariate 不会这样做：
Open( "$SAMPLE_DATA\Semiconductor Capability.jmp" );
Bivariate( Y( :NPN1 ), X( :NPN2 ), SendToReport( Dispatch( {}, "Bivar Plot", FrameBox, {Row Legend( SITE )} ) ) );
我当然可以看到您可能更喜欢 Overlay Plot 和 Graph Builder 正在做的事情！ 让我试着解释一下为什么这些平台不同，然后提供一些我希望能有所帮助的建议。
这些平台之所以不同，是因为 Overlay Plot 和 Graph Builder 是专门为处理两个以上的变量而构建的，它们根据叠加变量在图层中绘制标记。 如果您右键单击 > 自定义任何绘图，您可以自己看到这一点。 Graph Builder 和 Overlay Plot 将如下所示：
Fit Y by X（双变量）将如下所示：
注意到 Graph Builder / Overlap Plot 中的五个标记层（每个站点一个）？ 这些图层控制绘制顺序，从而控制重叠顺序。 请注意，只有一个用于按 X 拟合 Y 的标记层，这反过来意味着点在绘制时不能根据另一个变量进行分层。 当您像在用 X 拟合 Y（右键单击 > 行图例）中那样创建行图例时，JMP 提供了一个图例，允许您为点着色或标记，但这不会从根本上改变平台的绘图行为。 毕竟，Fit Y by X 是为一个 y 和一个 x 设计的，顾名思义，这意味着它不是用来分层绘制标记的，即使你有一个图例来识别它们。 所以我很遗憾地说，没有快速修复（我知道）来强制 Fit Y by X 双变量图在 Graph Builder 和 Overlay Plot 等层中绘制点。
我答应了一些建议。 我假设您正在使用 Fit Y by X 进行分析，所以我的第一个建议是在 Fit Y by X 中执行您需要的任何分析工作，然后使用 Graph Builder 制作您与他人共享的最终视觉效果. 这就是我大部分时间的工作方式——尽管我很喜欢 Fit Y by X（和其他平台），但我对在 Graph Builder 中制作的图表有更大的创造性控制，所以这是我的首选制作图表的工具，我打算分享。 这听起来不像是一种推动使用 JMP 不同部分的解决方案，但有时这确实是最好的解决方案！
另一种选择是在启动 Fit Y by X 时利用 By Variable，例如：
Open( "$SAMPLE_DATA\Semiconductor Capability.jmp" );
Bivariate( Y( :NPN1 ), X( :NPN2 ), By( :SITE ) );
不可否认，这不是一回事，因为这会给你单独的图，以及按组划分的单独拟合模型。 但是，由于有大量重叠点，而且听起来确实需要查看特定点，也许这是一种选择？
最后，如果有必要将所有行放在一起进行分析，但您需要分别查看每个组的点，则本地数据过滤器（仅选中“显示”）可能会成功。
Open( "$SAMPLE_DATA\Semiconductor Capability.jmp" );
Bivariate(
Y( :NPN1 ),
X( :NPN2 ),
Automatic Recalc( 1 ),
Fit Line( {Line Color( {212, 73, 88} )} ),
Local Data Filter(
Mode( Include( 0 ) ),
Add Filter(
columns( :SITE ),
Where( :SITE == 5 ),
Display( :SITE, Size( 181, 85 ), List Display )
)
)
);
这允许您切换分组变量的级别以查看所有未被遮挡的点，但由于未选中“包含”，因此本地数据过滤器不会影响哪些行可用于分析。
我希望这里的内容能有所帮助，也希望它能稍微清楚地说明为什么 jmp 的行为方式如此。
@朱利安
回复：为什么 JMP Bivariate 不能很好地显示数据点？？？可能是如果您找到解决方案，也请添加图片。回复：为什么 JMP Bivariate 不能很好地显示数据点？？？不幸的是，无法上传图片。但下面是jsl。如果你运行，它会显示 bivariat 和 Ovlay 之间的明显区别（& 覆盖在 grph 构建器中）。它将显示不同组的数据如何在双变量中随机混合，而不是在叠加层中定义明确的水平。
谢谢
内存
open("C:\Program Files\SAS\JMP\14\Samples\Data\Semiconductor Capability.jmp");
Graph Builder(
Size( 450, 306 ),
Show Control Panel( 0 ),
Variables( X( :NPN2 ), Y( :NPN1 ), Overlay( :SITE ) ),
Elements( Points( X, Y, Legend( 5 ) ) )
);
Bivariate(
Y( :NPN1 ),
X( :NPN2 ),
Automatic Recalc( 1 ),
SendToReport(
Dispatch(
{},
"Bivar Plot",
FrameBox,
{Row Legend(
SITE,
Color( 1 ),
Color Theme(
{"My_Color", 8193, {{53, 171, 50}, {255, 0, 0}, {33, 53, 237},
{225, 225, 0}, {160, 66, 255}, {255, 128, 0}, {150, 128, 0},
{166, 166, 166}}}
),
Marker( 0 ),
Marker Theme( "" ),
Continuous Scale( 0 ),
Reverse Scale( 0 ),
Excluded Rows( 0 )
)}
)
)
);
Overlay Plot(
X( :NPN2 ),
Y( :NPN1 ),
Grouping( :SITE ),
Overlay Groups,
:NPN1( Connect Color( 40 ), Overlay Marker( 8 ) )
);回复：为什么 JMP Bivariate 不能很好地显示数据点？？？你好@ram_asra_gmail_ ,
我相信我们可以找到一种方法来获得您正在寻找的东西！ 你能张贴一张你在双变量中得到的你不喜欢的图表类型的图像吗？以及另一个你喜欢的重叠图表中的相同图表？ 我很难想象您所描述的行为差异。
在 jmp 中总有一种方法可以得到您想要的东西——很乐意帮助您找到它。
@朱利安
