為什麼 JMP Bivariate 不能很好地顯示數據點？？？我有個問題。為什麼 JMP Bivaruate 不像疊加圖那樣區分數據？ 在疊加圖中，少量的數據點總是出現在前面。這樣您就可以清楚、區分地看到不同圖例的所有數據點。 但是 Bivariate 很奇怪，因為少量的數據點總是隱藏在下面。
但另一方面，疊加圖不提供像雙變量那樣的選項（例如許多不同的擬合線）。 JMP 太煩人了，缺少 JMP 創建者部分的顯而易見性。
回复：為什麼 JMP Bivariate 不能很好地顯示數據點？？？很公平， @ram_asra_gmail_ ！ 如果我能想到其他任何事情，我一定會告訴您。
順便說一句，只是為了澄清在其他地方提出的一個觀點（因為我想你可能會感興趣）在 Fit Y by X Bivariate 中點的分層不僅僅是隨機的，而是從左到右繪製的。如果勾勒出點的輪廓（右鍵單擊圖形 > 標記繪圖模式 > 輪廓），然後將它們放大（右鍵單擊圖形 > 標記大小 > 其他 > 15+），則最容易看到這一點：
@朱利安
回复：為什麼 JMP Bivariate 不能很好地顯示數據點？？？感謝朱利安的長回复。但不幸的是，我也知道所有這些技巧，但它不會奏效。 沒關係。
回复：為什麼 JMP Bivariate 不能很好地顯示數據點？？？你好@ram_asra_gmail_ ,
我想我現在明白你在描述什麼，但讓我重申一下以確保。 疊加圖提供如下結果：
Open( "$SAMPLE_DATA\Semiconductor Capability.jmp" );
Overlay Plot( X( :NPN2 ), Y( :NPN1 ), Grouping( :SITE ), Overlay Groups, :NPN1( Connect Color( 40 ), Overlay Marker( 8 ) ) );
您更喜歡哪個，因為每個組（示例中的站點）的標記存在於彼此堆疊的層中。 換句話說，所有 Site 5 標記都將繪製在 Site 4 標記之上，而 Site 4 標記將全部繪製在 Site 3 標記之上，等等。如您所見，Graph Builder 執行相同操作：
Open( "$SAMPLE_DATA\Semiconductor Capability.jmp" );
Graph Builder( Show Control Panel( 0 ),
Variables( X( :NPN2 ), Y( :NPN1 ), Overlay( :SITE ) ),
Elements( Points( X, Y, Legend( 5 ) ) )
);
但是，由於我稍後會澄清的原因，Fit Y by X 的 Bivariate 不會這樣做：
Open( "$SAMPLE_DATA\Semiconductor Capability.jmp" );
Bivariate( Y( :NPN1 ), X( :NPN2 ), SendToReport( Dispatch( {}, "Bivar Plot", FrameBox, {Row Legend( SITE )} ) ) );
我當然可以看到您可能更喜歡 Overlay Plot 和 Graph Builder 正在做的事情！ 讓我試著解釋一下為什麼這些平台不同，然後提供一些我希望能有所幫助的建議。
這些平台之所以不同，是因為 Overlay Plot 和 Graph Builder 是專門為處理兩個以上的變量而構建的，它們根據疊加變量在圖層中繪製標記。 如果您右鍵單擊 > 自定義任何繪圖，您可以自己看到這一點。 Graph Builder 和 Overlay Plot 將如下所示：
Fit Y by X（雙變量）將如下所示：
注意到 Graph Builder / Overlap Plot 中的五個標記層（每個站點一個）？ 這些圖層控制繪製順序，從而控制重疊順序。 請注意，只有一個用於按 X 擬合 Y 的標記層，這反過來意味著點在繪製時不能根據另一個變量進行分層。 當您像在用 X 擬合 Y（右鍵單擊 > 行圖例）中那樣創建行圖例時，JMP 提供了一個圖例，允許您為點著色或標記，但這不會從根本上改變平台的繪圖行為。 畢竟，Fit Y by X 是為一個 y 和一個 x 設計的，顧名思義，這意味著它不是用來分層繪製標記的，即使你有一個圖例來識別它們。 所以我很遺憾地說，沒有快速修復（我知道）來強制 Fit Y by X 雙變量圖在 Graph Builder 和 Overlay Plot 等層中繪製點。
我答應了一些建議。 我假設您正在使用 Fit Y by X 進行分析，所以我的第一個建議是在 Fit Y by X 中執行您需要的任何分析工作，然後使用 Graph Builder 製作您與他人共享的最終視覺效果. 這就是我大部分時間的工作方式——儘管我很喜歡 Fit Y by X（和其他平台），但我對在 Graph Builder 中製作的圖表有更大的創造性控制，所以這是我的首選製作圖表的工具，我打算分享。 這聽起來不像是一種推動使用 JMP 不同部分的解決方案，但有時這確實是最好的解決方案！
另一種選擇是在啟動 Fit Y by X 時利用 By Variable，例如：
Open( "$SAMPLE_DATA\Semiconductor Capability.jmp" );
Bivariate( Y( :NPN1 ), X( :NPN2 ), By( :SITE ) );
不可否認，這不是一回事，因為這會給你單獨的圖，以及按組劃分的單獨擬合模型。 但是，由於有大量重疊點，而且聽起來確實需要查看特定點，也許這是一種選擇？
最後，如果有必要將所有行放在一起進行分析，但您需要分別查看每個組的點，則本地數據過濾器（僅選中“顯示”）可能會成功。
Open( "$SAMPLE_DATA\Semiconductor Capability.jmp" );
Bivariate(
Y( :NPN1 ),
X( :NPN2 ),
Automatic Recalc( 1 ),
Fit Line( {Line Color( {212, 73, 88} )} ),
Local Data Filter(
Mode( Include( 0 ) ),
Add Filter(
columns( :SITE ),
Where( :SITE == 5 ),
Display( :SITE, Size( 181, 85 ), List Display )
)
)
);
這允許您切換分組變量的級別以查看所有未被遮擋的點，但由於未選中“包含”，因此本地數據過濾器不會影響哪些行可用於分析。
我希望這裡的內容能有所幫助，也希望它能稍微清楚地說明為什麼 jmp 的行為方式如此。
@朱利安
回复：為什麼 JMP Bivariate 不能很好地顯示數據點？？？可能是如果您找到解決方案，也請添加圖片。回复：為什麼 JMP Bivariate 不能很好地顯示數據點？？？不幸的是，無法上傳圖片。但下面是jsl。如果你運行，它會顯示 bivariat 和 Ovlay 之間的明顯區別（& 覆蓋在 grph 構建器中）。它將顯示不同組的數據如何在雙變量中隨機混合，而不是在疊加層中定義明確的水平。
謝謝
內存
open("C:\Program Files\SAS\JMP\14\Samples\Data\Semiconductor Capability.jmp");
Graph Builder(
Size( 450, 306 ),
Show Control Panel( 0 ),
Variables( X( :NPN2 ), Y( :NPN1 ), Overlay( :SITE ) ),
Elements( Points( X, Y, Legend( 5 ) ) )
);
Bivariate(
Y( :NPN1 ),
X( :NPN2 ),
Automatic Recalc( 1 ),
SendToReport(
Dispatch(
{},
"Bivar Plot",
FrameBox,
{Row Legend(
SITE,
Color( 1 ),
Color Theme(
{"My_Color", 8193, {{53, 171, 50}, {255, 0, 0}, {33, 53, 237},
{225, 225, 0}, {160, 66, 255}, {255, 128, 0}, {150, 128, 0},
{166, 166, 166}}}
),
Marker( 0 ),
Marker Theme( "" ),
Continuous Scale( 0 ),
Reverse Scale( 0 ),
Excluded Rows( 0 )
)}
)
)
);
Overlay Plot(
X( :NPN2 ),
Y( :NPN1 ),
Grouping( :SITE ),
Overlay Groups,
:NPN1( Connect Color( 40 ), Overlay Marker( 8 ) )
);回复：為什麼 JMP Bivariate 不能很好地顯示數據點？？？你好@ram_asra_gmail_ ,
我相信我們可以找到一種方法來獲得您正在尋找的東西！ 你能張貼一張你在雙變量中得到的你不喜歡的圖表類型的圖像嗎？以及另一個你喜歡的重疊圖表中的相同圖表？ 我很難想像您所描述的行為差異。
在 jmp 中總有一種方法可以得到您想要的東西——很樂意幫助您找到它。
@朱利安
