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可靠性Explorer系列與Bill Meeker博士和Leo Wright博士合作<meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=UTF-8" />

第1集：概率圖和生命分佈。使用AlloyT7987數據文件。

第2集：具有生命分佈的多種失敗模式。示例1使用DeviceG數據文件。

第2集：具有生命分佈的多種失敗模式。示例2使用減震器數據文件。

第3集：用解釋變量建模生活。使用出血系統數據文件。

第4集：加速壽命測試（ALT）。使用Mylar Poly數據文件。