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展示回歸

探索回歸概念，包括：截距，斜率，相關性，最小二乘和平方和，殘差，R平方，參數估計，檢驗統計和p值。操縱人口特徵，樣本量和繪製數據，以探索對回歸方程和結果的影響。（作者：SAS研究所的Mark Bailey。）

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