完全交互式，該應用程序允許用戶探索其元數據中具有規範限制的列的功能分析。目的是了解更改標準偏差或規格限制對功能分析的影響，尤其是對CpK和Cp的影響。要使用它，請運行加載項並選擇一個列有一些規範限制的列。您可以使用JMP幫助中“樣本目錄”中的文件Semiconductor Capability.jmp，並使用所需的任何列（VPM7是功能動畫工具的很好說明）。
