<meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=UTF-8" />C30 JMP DOE覆盖阵列（Koprowski / Perkinson）
作者： Stan Koprowski和Jeff Perkinson
背景： JMP用户社区最近遭到垃圾邮件的攻击。 社区已更新为该软件的更新版本。 升级导致显示错误的菜单标题。
DOE设计覆盖阵列
覆盖阵列用于测试确定性系统，其中由于组件或子系统之间的交互而发生故障。
设计目标是揭示是否有任何相互作用导致系统失败。
· 识别与确定性系统交互导致的故障。
· 创建候选模型以允许进一步的组件测试。
· 简化并加快识别组件故障的过程。
为什么好： 这是一个很好的真实示例，用于说明覆盖数组的有用性，以帮助识别软件故障。
脚本：
DOE对话框
覆盖阵列分析
附件（7）：
- DOE Covering Array.jmp
- DOE Covering Array Journal
- 突出显示问题的屏幕截图
- 应用修复后更正的菜单的屏幕截图
- 实际目录结构的屏幕截图（主题）
- 具有候选因子的DOE覆盖阵列的屏幕截图
- 摘要大纲/失败分析的屏幕截图
