Titre: Données sur les défauts de revêtement du film
Auteur (s): Mike Anderson et Peter Bartell
Description: Jeu de données à utiliser avec l’option Clustering hiérarchique avec mesures spatiales. L'ensemble de données est synthétique et peut être utilisé et distribué librement. Les données se rapprochent d'une série de longs substrats qui passent à travers une cascade de revêtement liquide. Les substrats sont ensuite scannés pour détecter les défauts du revêtement via un scanner optique en mode de transmission. Chaque substrat (indiqué par la colonne d’image dans les données) mesure 1397 mm x 1524000 mm. Le scanner optique classe les données d’image de telle sorte que chaque rangée de données représente 1219 mm sur 11,6 mm, ce qui donne une image de 1250 x 120 pixels. Du bruit blanc est ajouté à chaque film pour compliquer davantage l'analyse. L'objectif est de localiser les défauts linéaires dans le revêtement du film à l'aide de la plate-forme de classification hiérarchique et de l'option de mesures spatiales. Les scripts pour la visualisation du problème et l'analyse finie sont inclus.
Des dossiers:
- Narrative.doc: une description détaillée du processus et des informations générales pertinentes.
- Film_small.jmp: le fichier de données.
- Film.small.tiff: une pile d'images de la sortie du scanner optique pour les différentes exécutions
