D66薄膜涂层缺陷数据（Anderson＆Bartell）标题：薄膜涂层缺陷数据
作者：Mike Anderson和Peter Bartell
描述：用于“带空间度量的层次聚类”选项的数据集。 数据集是合成的，可以自由使用和分发。 该数据近似于一系列通过级联液体涂层的长基板。 然后在透射模式下通过光学扫描仪扫描基板的涂层中的缺陷。 每个基板（由数据中的图像列表示）是1397mm×1524000mm。 光学扫描仪将图像数据向下压缩，使得每行数据占1219mm×11.6mm，从而产生1250px×120px的图像。 每个胶片都添加了白噪声，使分析更加复杂。 目标是使用分层聚类平台和空间测量选项在薄膜涂层中找到线性缺陷。 包括用于可视化问题和完成分析的脚本。
文件：
- Narrative.doc：过程和相关背景信息的详细描述。
- Film_small.jmp：数据文件。
- Film.small.tiff：用于不同运行的光学扫描仪输出的图像堆栈
数据表掌握JMP
