级别：中级Stefan Nikles，ADI 产品工程师存在多个用于可视化参数空间的 JMP 平台：Contour Plot、Overlay Plot、Surface Plot 和 Scatterplot 3D 等等。 这些在探索包含单个因变量作为两个自变量的函数的数据时效果很好，但是当需要探索作为三个自变量的函数的数据时（例如，三因子 DOE）则更加困难。 用户通常必须为一个或多个参数的所有值呈现多个图，从而难以辨别重要关系。 然而，在许多情况下，主要关注点只是知道因变量超过特定阈值的位置。 例如，在什么条件下信噪比超过 1？ 或者参数空间中的哪里是 p 值小于 0.05？ 在本演示文稿中，描述了一种用于从多个绘图计算单个轮廓级别并将每个绘图叠加到单个绘图中的方法。 此方法使用支持 GUI 的 JSL 脚本来计算轮廓，然后使用双变量平台中的图形脚本功能绘制轮廓。 使用这种方法对于验证我们设备的新测量技术至关重要。
