比较两个过程之间的缺陷性能大家好，
我打算评估一个新的工艺，它应该具有更好的缺陷性能（半导体工业）。我的问题是，在某些实验过程中，我的过程失败是不可重复的。例如，在我的100个晶圆运行中，我观察到故障发生在第20和第50个晶圆运行。在另外100个晶圆上重复运行，故障发生在第10个，第31个和第70个晶圆上。在这种情况下，我如何设计我的实验，以确定我的新过程是否确实改善了我的基线过程的缺陷
希望有人能够帮助我
Rgrds
伊尔凡
Re：比较两个过程之间的缺陷性能Irfan，你的alpha是0.4138（Log-Rank测试）。由于0.4138大于0.05，我们无法拒绝两组相同的零假设。如此正式！但是这个事实不应该阻止你说明你的（累积）情节较低（如果是这样），因此这个过程具有更好的缺陷性能 。一般而言，获得统计显着性差异仍然非常困难。但这是我的主观态度（也许，这里的专家会发现他们可以做出更正的评论 ）。
Re：比较两个过程之间的缺陷性能你好Med，
能够与我分享这个数字代表什么，alpha也设置为0.05？这意味着在这种情况下我们不能拒绝这两个组相同的零假设？
Rgrds
伊尔凡
Re：比较两个过程之间的缺陷性能这些曲线反映了失败的（累积）概率。所以
具有更好的缺陷性能的过程具有较低的曲线。
还需要考虑（但不是恋物癖）p值。但这一切都适用
统计理论。
Re：比较两个过程之间的缺陷性能你好Med，
这是我的数据
能够向我解释上面分析中显示的数字的解释
Rgrds
伊尔凡
Re：比较两个过程之间的缺陷性能使用列（名称）在JMP数据文件中创建和打开：
时间：只是1到100之间的一系列数字
检查员：代码为0和1（失败“是” - 0（原文如此！），失败“否” - 1）
分组：代码1,2等（比较组）
然后：
分析 - >可靠性和生存 - >生存
并激活（勾选）：“情节失败而不是生存”
抱歉简短（因为我的英语不好）:)
Re：比较两个过程之间的缺陷性能您可以在中找到Kaplan-Meier参考
帮助==统计指数
Re：比较两个过程之间的缺陷性能亲爱的Medicc，
您是否能够指导JMP中能够执行此累积可能性的分析选项？
Rgrds
伊尔凡Re：比较两个过程之间的缺陷性能在我看来，其中一种可能的方法是比较倒置（从下到上）Kaplan-Meier曲线（反映失效的累积概率）。作为时间变量（X轴），可以使用“条件时间”（其单位是晶片）。
