Penalizzare i tuoi modelli: una panoramica della piattaforma di regressione generalizzata<meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=UTF-8" />autori
Michael Crotty, PhD, JMP Research Statistician, SAS
Clay Barker, PhD, JMP Research Statistician, SAS
Forniremo una panoramica della personalità della regressione generalizzata della piattaforma Fit Model aggiunta in JMP Pro 11. Verrà discussa la motivazione per l'utilizzo della regressione penalizzata e diversi esempi mostreranno come la piattaforma può essere utilizzata per la selezione variabile su dati continui o di conteggio. Ci sarà anche un'anteprima delle funzionalità di Regressione generalizzata in arrivo su JMP Pro 12.
Modellazione predittiva
