工具与工具匹配<meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=UTF-8" />你好。我想知道证明工具与工具与许多因素匹配的最佳实践。
例如，我有 3 个工具，每个工具有 2 个头（左、右）。我想要匹配 4 个条件，每个条件测量 10 次，每个条件有 10 个零件。
如果只有 3 个因素，我通常会进行 GRR。我应该只拟合模型并使用方差分量作为指标吗？
我应该为每个条件单独做一个 GRR 然后比较它们吗？
我真正想从中收集的信息是仪表是否匹配并且能够适应每种条件（达到某些规格）。
实际上，零件移动时不会在同一位置进行重复测量。而且不同工具的 L&R 不会完全对齐到相同的位置。我想我可以嵌套这些，但我不知道是否首选其他方法。
我附上了一张模拟表，以防不清楚我在问什么。
即使只是推荐阅读也将不胜感激。
谢谢，
文斯
回复：工具与工具的匹配我喜欢。这有助于我获取我正在寻找的信息。谢谢您的帮助。
回复：工具与工具的匹配在这里大声思考...在公共论坛上总是很危险...如果您为每个级别计算某种标准化响应该怎么办...例如该级别的 az 值，因为听起来您正在尝试建立可重复性/再现性跨越标称值的范围。 那么惠勒方法中的平均值和极差图表不会关心伪假零件到零件的变化吗？
回复：工具与工具的匹配我喜欢这个，但我再次遇到的问题是只是按照每个名义条件来做？假设我正在尝试测量某物的长度。我想知道它对4种不同长度的控制效果如何。如果我将所有内容都插入 MSA，它会给出整体的平均值，但我会引入错误的部分到部分的变化。所以我可以在每个长度上单独运行它，但随后我会得到每个条件的分类。有没有一种方法可以针对整个条件范围获得工具的一种分类？ 那么，当我进行均值分析时，它会给出每个标称条件的 UDL/LDL 吗？
回复：工具与工具的匹配Vince：您可能还想看看 Don Wheeler 的 EMP 算法来分析这方面的数据。 相对于传统的量具 R & R 方法，我更喜欢 Wheeler 的方法，主要是因为 Wheeler 的方法可以通过多种不同的图形方式回答有关重复性、分辨率、再现性、交互性等的各种传统问题。以下是 JMP 在线文档中的一个链接，其中说明了JMP 中部署的 EMP 方法：测量系统分析
回复：工具与工具的匹配文斯，
你这里有几个选择...... 首先是使用方差分析的组成部分（在变异性研究下）。具有多个匹配标准的另一个选项是在“拟合模型”中根据条件构建模型，并查看其中任何一个在某个 alpha 水平上是否显着。如果它们不重要，则这些工具是有效匹配的。
最好的，
中号
