嗨，
我用一个测试装置来测量1000个单位（比如电池的电压），然后用另一个测试设备再次测量这1000个单位。 与第一个测试设备相比，我可以使用哪种JMP分析来推测第二测试设备的性能？
我现在正在做的是（使用excel）计算每个单位的测量delta，然后绘制delta与单位的关系。只是想知道JMP可以提供哪些更专业的分析？
谢谢
贾森
嗨，杰森，
除非您在同一台设备上进行多次测量，否则您不会对测量系统有太多了解。测量系统研究的设计和分析是一个研究得很好的主题，类似于过程系统的实验设计。
看一些JMP点播网络研讨会： https://www.jmp.com/en_us/events/ondemand/mastering-jmp/evaluating-and-monitoring-your-process-using-msa-and-spc.html ，或参加培训课程： https://support.sas.com/edu/schedules.html?ctry=us&crs=JMSA （下周将安排一个LiveWeb课程！）。
我希望这有帮助。你问这个问题并寻找更多的分析答案真是太棒了。
--Di
