演讲嘉宾：康盛 ，中芯国际集成电路制造有限公司，质量与可靠性中心资深经理
扬声器： 盛康 ，中芯国际质量与可靠性中心高级经理
演讲主题 ：大数据挖掘在IC制造中的应用 - 缺陷预测模型
话题： IC制造业大数据挖掘：缺陷预测模型
摘要 ：
2016年AlphaGo击败一个又一个人类的顶尖围棋高手，2017年AlphaGo Zero又击败了它的所有前辈，人类进入AI元年。随着信息技术的不断发展，数据的应用，特别是大数据在工业界的应用，对制造业也起着越来越重要的作用.IC制造作为高科技密集型的产业，其产品的尺寸和精密度就注定了它的生产离不开数据。本次演讲主要介绍了如何利用IC生产中的实时设备监控数据，在未知物理模型的情况下，运用数据挖掘和机器学习的方法，寻找产品缺陷的问题原因，并达到提升质量管控，优化产能，提高生产率的目的。让我们看到了AI在工业界的前景。通过一些实际案例分享，康先生将会介绍JMP的模型预测功能在实际IC制造过程中，对于产品缺陷预测和电性参数的趋势预测所发挥的作用。希望基于这些案例，能对其他领域的用户有所启发。
抽象：
2016年，AlphaGo逐一击败了顶尖的Go玩家。2017年，AlphaGo Zero在没有人类经验的情况下通过自学而击败了所有前辈。从那以后，人类进入人工智能的第一年。随着信息技术的不断发展，数据的应用，尤其是大数据在工业中的应用，在制造业中发挥着越来越重要的作用。集成电路（IC）制造是一个高科技密集型产业。产品的非常小的尺寸和高精度的要求注定与数据分析有着非常密切的关系。本讲座主要介绍如何利用IC生产中的实时设备监控数据，通过数据挖掘和机器学习方法找出缺陷的根本原因，从而实现质量改进，降低成本和提高生产率。让我们看看AI在行业中的力量和前景。我们将分享一些实际案例，介绍如何在基于IC制造数据的WAT的缺陷预测和虚拟计量中使用JMP的模型预测功能。我们希望这些案例能够激发灵感。
