Conception expérimentale et analyse (niveau intermédiaire-préliminaire)
Rendez-vous amoureux: 9 avril au 11 avril 9:30 - 16h30
Site: Hyatt Regency Shanghai Wujiaochang
Adresse: n ° 88, route Dingdong, district de Yangpu, Shanghai
Une longueur de temps: 3 jours (6 heures * 3 = 18 heures)
Prix préférentiel: 4 800 RMB / personne (avant le 16 mars)
Prix standard: 5 500 RMB / personne
Remarque: La formation de pré-session est uniquement disponible pour ceux qui s'inscrivent à la session. Les frais de formation ne couvrent que la formation et le déjeuner de travail. Les autres services sont à la charge des participants.
Instructeur : Xu Zhan Consultant principal en analyse de données chez JMP China
Profil de l'instructeur: Consultant actuel en analyse de données auprès de JMP Chine, maîtrise en ingénierie industrielle de l'Université Tsinghua. Il est familiarisé avec la philosophie et la pratique de gestion Six Sigma et maîtrise l'application de méthodes d'analyse statistique telles que l'analyse de données exploratoire, la conception expérimentale, la prévision par modélisation, l'analyse de survie et de fiabilité et le contrôle de processus statistique dans les travaux pratiques. Il possède une riche expertise dans l'application de la technologie statistique dans les industries de haute technologie, pharmaceutique, de la finance et de l'automobile, et a dispensé une formation professionnelle à plus de 50 entreprises renommées.
Qui devrait être présent:
- Ingénieurs, techniciens, enseignants et étudiants en gestion de l'ingénierie chargés de la planification et de la mise en œuvre de la conception d'expériences (DOE); d'autres qui viennent juste de commencer et qui s'intéressent au DOE.
Le contenu des cours:
- Introduction générale du DOE
- Différences entre les méthodes d'analyse et les méthodes d'analyse traditionnelles
- DOE technologie de base
- Terminologie et idées d'analyse du DOE
- Fondation de la statistique appliquée du DOE
- Tests d'hypothèses
- Analyse de variance (ANOVA)
- Analyse de régression
- Type descriptif DOE
- Trois principes de base du DOE
- 2 k plans factoriels complets
- Type de criblage DOE
- Plans factoriels partiels
- Interprétation de la table de résolution
- Dessins de Plackett-Burman
- Type optimisé DOE
- Plans de surface de réponse
- Construction des fonctions de désirabilité
- Présentation graphique des modèles polynomiaux
- Simulation et prédiction de modèle
- Vue d'ensemble du DOE avancé
- Dessins personnalisés
- Dessins augmentés
Modèles expérimentaux et analyse (avancé)
Rendez-vous amoureux: 10 avril au 11 avril 9:30 - 16h30
Site: Hyatt Regency Shanghai Wujiaochang
Adresse: n ° 88, route Dingdong, district de Yangpu, Shanghai
Une longueur de temps: 2 jours (6 heures * 2 = 12 heures)
Prix préférentiel: 4 800 RMB / personne (avant le 16 mars)
Prix standard: 5 500 RMB / personne
Remarque: La formation de pré-session est uniquement disponible pour ceux qui s'inscrivent à la session. Les frais de formation ne couvrent que la formation et le déjeuner de travail. Les autres services sont à la charge des participants.
Instructeur: Zhou Wei Consulting Manager de JMP Chine
Profil de l'instructeur: Gestionnaire de consultants actuel de JMP China et Six Sigma MBB. En tant que membre expert principal du comité d'experts Six Sigma de l'Association chinoise de la qualité, il maîtrise bien le Six Sigma Lean, le management de la qualité, le génie industriel, le DOE, etc. Il a fourni une expérience de formation professionnelle à plus de 200 entreprises renommées.
Qui devrait être présent:
- Ingénieurs, techniciens, enseignants et étudiants en gestion de l'ingénierie chargés de la planification et de la mise en œuvre de la conception d'expériences (DOE); d'autres qui ont une expérience relativement riche dans le DOE.
Le contenu des cours:
- Examen rapide du DOE classique
- Terminologie et idées d'analyse du DOE
- Avantages et inconvénients du DOE traditionnel
- Introduction générale de DOE Family
- Dessins personnalisés
- Critères de discrimination pour les schémas expérimentaux
- Étapes de normalisation du DOE
- Amélioration des DOE existantes
- Exercices en classe et partage (I)
- Détermination de la taille de l'échantillon
- Taille minimale de l'échantillon pour des résultats expérimentaux continus
- Taille minimale de l'échantillon pour des résultats expérimentaux discrets
- Problème de taille d'échantillon dans les expériences de fiabilité
- Autres types de DOE
- Modèles de mélange
- Dessins Taguchi
- Dessins non linéaires
- Designs de remplissage d'espace
- Designs d'options
- Modèles de dépistage définitifs
- Exercices en classe et partage (II)
Analyse de fiabilité
Rendez-vous amoureux: 9 avril au 11 avril 9:30 - 16h30
Site: Hyatt Regency Shanghai Wujiaochang
Adresse: n ° 88, route Dingdong, district de Yangpu, Shanghai
Une longueur de temps: 3 jours (6 heures * 3 = 18 heures)
Prix préférentiel: 4 800 RMB / personne (avant le 16 mars)
Prix standard: 5 500 RMB / personne
Remarque: La formation de pré-session est uniquement disponible pour ceux qui s'inscrivent à la session. Les frais de formation ne couvrent que la formation et le déjeuner de travail. Les autres services sont à la charge des participants.
Instructeur : Chen Jiasong, consultant senior de JMP Chine
Profil de l'instructeur: Actuellement consultant principal chez JMP Chine, analyste en gestion de la qualité, auditeur directeur Six Sigma MBB et ISO9001. Il connaît la philosophie et les pratiques de gestion Six Sigma, et sa maîtrise de l’application de méthodes d’analyse statistique telles que l’analyse exploratoire de données, la conception expérimentale, la prédiction de modélisation, l’analyse de survie et de fiabilité, le contrôle de processus statistique et la recherche de marché dans les travaux pratiques. Il est spécialisé dans l'intégration en profondeur d'outils analytiques et de processus d'entreprise modernes, capable d'établir des plates-formes d'analyse personnalisées normalisées par le développement secondaire de logiciels et d'améliorer le niveau d'analyse des données pour l'utilisateur de manière globale. Il possède une riche expertise dans l'application de la technologie d'analyse statistique dans les industries des semi-conducteurs, de l'électronique, des produits pharmaceutiques, du génie chimique et de l'éducation.
Qui devrait être présent:
- Ingénieurs, techniciens, enseignants et étudiants en gestion de l'ingénierie chargés de la planification et de la mise en œuvre de tests et d'analyses de fiabilité des produits; d'autres qui s'intéressent au DOE.
Le contenu des cours:
Analyse de données de vie
- Données de vie et types de censure
- Modèles non paramétriques et estimation
- Modèles paramétriques et estimation du maximum de vraisemblance; sélection et application de modèles paramétriques
- Analyse du mécanisme d'échec de la concurrence; établissement et application de modèles
Conception de tests de vie de censure communs
- Fins de test
- Détermination de la taille de l'échantillon
- Détermination des longueurs d'essai
Analyse des données de test de durée de vie accélérée
- Objectifs de test et types de données
- Analyse des données de test de la vie accélérée avec un seul stress; hypothèse de test et vérification; sélection du modèle et application
- Analyse des données de test de la vie accélérée multi-stress; établissement, sélection et application de modèles paramétriques
Conception de tests de durée de vie accélérée
- Conception de tests de durée de vie accélérée avec un seul stress
Prévision de la réserve d'assurance de la qualité
- Objectifs de la prévision de réserve d'assurance qualité et types de données de terrain
- Modélisation et sélection de données de terrain d'assurance qualité
- Types, calcul, évaluation et sélection de l'intervalle de confiance de la prévision de la réserve d'assurance de la qualité
Tests de croissance de fiabilité et analyse de données sur le terrain
- Objectifs et types de données des tests de croissance de la fiabilité
- Types, estimation de paramètres, sélection de modèles et application de modèles de paramètres de croissance de la fiabilité
- Données incomplètes, modèles, estimation de paramètres et application de modèles de champs de croissance de la fiabilité
Diagramme de fiabilité
- Utilisation prévue du diagramme de fiabilité
- Composants du diagramme de fiabilité
- Types et paramètres des composants du diagramme de fiabilité
- Données de sortie et application des diagrammes de fiabilité
