許多參數的 Cpk 分析我知道我們可以通過使用過程能力獲得單個或多個參數 Cpk 分析。 但是該功能對於深入了解幾個參數很有用。 但我需要為 Cpk 運行數百個參數並將它們按升序排序。 然後我只檢查那些 Cpk 較低的參數，並查看更多細節，如過程能力。 知道如何實現嗎？
回复：許多參數的 Cpk 分析我得到了它。 我可以通過紅色三角形 -> 性能圖邊界更改邊界。
回复：許多參數的 Cpk 分析謝謝伊恩。 我不知道這個很棒的 JMP 功能！
順便問一下，是否可以更改過程性能圖像限定義？ 似乎默認情況下，穩定比設置為 1.5，ppk 設置為 2.0。 我怎樣才能改變它？ 改變參考線不會改變象限。
回复：許多參數的 Cpk 分析伊恩的是一個更好的解決方案回复：許多參數的 Cpk 分析你還應該仔細看看過程篩選平台。 它就是為這種情況而建造的。 也看到這個最近推介會經過@Laura_Lancaster .
回复：許多參數的 Cpk 分析這是讓您入門的一種方法。它適用於任意數量的列。它確實假設規格限嵌入到數據列中，作為規格限列屬性
names default to here(1);
// Open a sample data table that has the Column Property of "Spec Limits" set
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
// Create a List that has all of the columns that need to be processed
colNamesList = dt << Get Column Names( String, continuous );
// Start to Build the command string to run all of the outputs
theExpr = "dist = dt << Distribution( invisible,";
// Loop across all of the required columns to generate the Cpks
For( i = 1, i<=Nitems(colNamesList), i++,
theExpr = theExpr || "Continuous Distribution( Column( " || colNamesList[i] || ")),";
);
// Finish up the command string
theExpr = TheExpr || ");";
eval(Parse(theExpr));
// Create the data table with all of the capability stats
dtCap = report(Dist)["Long Term Sigma"][TableBox(1)]<<MAKE combined="" data="https://community.jmp.com/" table=""></MAKE>
