添付のjmpファイルで、私はいくつかのダミーデータを使ってシフト検出プロファイラーを設定し、測定誤差が本質的にゼロであり、平均の正規性の一般的な仮定の下で3標準偏差プロセスシフトに相当する '3'の平均部分シフトを持ちます。0のSDと1のSD。
jmpファイルを開くと、サブグループの数kが10(n = 1)のときに3の平均シフトを検出したい個々の値の状況がシミュレートされます。
何をしたいのかを示すために、2つの画像ファイルを添付しました。1つ目は検知ルール1つだけです。2つ目は、リスト内の検出規則1と2です(Wheeler Rule '4'で、中心線の両側に8点を選択)。
"平均シフト"グラフのこれらの優れたチャートの背後にあるx軸とy軸の値をエクスポートすることは可能ですか。明らかに、彼らはバックグラウンドにいるので、どうやってそれらにアクセスしたり読んだりしますか?
さまざまなシナリオの値をエクスポートすることで、検出ルールの選択が異なる場合の電力関数と誤警報リスクをグラフィカルに比較します。(ここで強調しているのは、同じグラフ上でこれらの異なるシナリオを持つことです。)
誰かが手伝ってくれる?グラフの背後にあるx軸とy軸の計算値をエクスポートしてアクセスする方法(主な要求は「平均シフト」チャートに対するものです。)
いつも助けてくれてありがとう!私の意見が明確であることを願っています。
スコット。
親愛なるスコット
私はあなたが捜しているものを今理解していると思います。一部のプラットフォームでは、プロファイラー式またはデータグリッドを単純に保存できますが、このプラットフォームでは保存できません。 各座標を順番に変更してそれぞれの警告値の確率を記録するという方法も考えられますが、6つの次元があるので、10個の値を持つグリッドでは10 ^ 6の組み合わせが得られます。そして有用な結果に対する保証はありません。おそらく背後にある数学を見つけ出して計算をすることがより現実的です。うまくいけば、誰かがより良い解決策を思い付くでしょう。
親切、トーマス
トーマス様
私はスクリプトを数回実行しましたが、シフト検出プロファイラーの出力(サブグループ数、部分平均シフトに基づくさまざまなグラフなど)を含むMeasurement Systems Analysisの出力を常に見つけることができますが、見当もつかないグラフの背後にある実際の値(測定システム解析の出力フォームの外側で同じグラフを作成できる一連のx座標とy座標)を見つける方法。
私が悪いことをしている、またはしていないことを指摘できたら、私に知らせてください。大歓迎です。
よろしく、スコット。
こんにちはスコット
Axesから値を取得する方法は2つあります。
pf=EMP Measurement Systems Analysis(
Y( :Values ),
X,
Part( :Column 1 ),
Model( "Crossed" ),
Dispersion Chart Type( "Range" ),
Parallelism Plots( 0 ),
EMP Results( 1 ),
Variance Components( 1 ),
EMP Gauge RR Results( 1 ),
Average Chart( 1 ),
Dispersion Chart( 1 ),
Shift Detection Profiler(
Profiler(
1,
Confidence Intervals( 1 ),
Term Value(
Number of Subgroups( "10", Lock( 0 ), Show( 1 ) ),
Part Mean Shift( 3, Lock( 0 ), Show( 1 ) ),
Part Std Dev( 1, Lock( 0 ), Show( 1 ) ),
Bias Factors Std Dev( 0, Max( 1 ), Lock( 0 ), Show( 1 ) ),
Name( "Test-Retest Std Dev" )(0.0000008619, Lock( 0 ), Show( 1 )),
Subgroup Size( "1", Lock( 0 ), Show( 1 ) )
),
Name( "Change In-Control Part Std Dev" )(1)
)
),
Max Iter( 100 ),
Conv Limit( 0.00000001 ),
SendToReport(
Dispatch(
{},
"Shift Detection Profiler",
OutlineBox,
{Set Summary Behavior( "Collapse" )}
),
Dispatch(
{"Shift Detection Profiler"},
"EMP Shift Detection Profiler",
FrameBox,
{Frame Size( 236, 214 )}
),
Dispatch(
{"Shift Detection Profiler"},
"EMP Shift Detection Profiler",
FrameBox( 3 ),
{Frame Size( 236, 214 )}
),
Dispatch(
{"Shift Detection Profiler"},
"EMP Shift Detection Profiler",
FrameBox( 5 ),
{Frame Size( 236, 214 )}
),
Dispatch(
{"Shift Detection Profiler"},
"EMP Shift Detection Profiler",
FrameBox( 7 ),
{Frame Size( 236, 214 )}
),
Dispatch(
{"Shift Detection Profiler"},
"EMP Shift Detection Profiler",
FrameBox( 9 ),
{Frame Size( 236, 214 )}
),
Dispatch(
{"Shift Detection Profiler"},
"EMP Shift Detection Profiler",
FrameBox( 11 ),
{Frame Size( 236, 214 )}
),
Dispatch(
{"Shift Detection Profiler"},
"Customize and Select Tests",
OutlineBox,
{Close( 0 )}
)
)
);
rep=pf<<REPORT></REPORT>KR、トーマス