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如何在Shift Detection Profiler中導出P（警告）圖表後面的值

在附加的jmp文件中，我設置了一些虛擬數據，移位檢測分析器基本上沒有測量誤差，平均部分偏移“3”相當於一般假設的平均值下的3標準偏差過程偏移零和SD為1。
當jmp文件被打開時，它模擬各個值的情況，我們想要檢測3的平均移位，其中子組的數量k等於10（n = 1）。
我附上了兩個圖片文件，以便了解我想要做什麼。首先是僅檢測規則1。其次是列表中的檢測規則1和2（Wheeler Rule'4'選擇中心線兩側的8個點）。
是否可以導出這些偉大圖表背後的x軸和y軸值用於“均值平移”圖。顯然，他們是在後台，所以如何訪問/閱讀它們？
通過導出不同場景的值，我可以在不同的檢測規則選擇下，以圖形方式比較功率函數和誤報警風險。（這裡強調的是在同一圖表上有這些不同的場景。）
有人可以幫忙嗎？如何導出和訪問圖形後面的x軸和y軸的計算值？（主要要求是“均值班次”圖表。）
一如既往地感謝您的幫助！希望我的觀點清楚。
斯科特。

Re：如何在Shift Detection Profiler中導出P（警告）圖表後面的值

親愛的斯科特

 

我想，現在我明白你在找什麼。在某些平台中，您只需保存探查器公式或數據網格，但不能保存在此平台中。 一種方法可能是順序地改變每個坐標並記錄每個坐標的警告值的概率，但是因為有6個維度，只有10個值的網格將給你10 ^ 6個組合，所以它是一條枯燥的路徑，並且無法保證可用的結果。可能會發現背後的數學並進行計算會更可行。希望有人能提出更好的解決方案。

 

親切的問候，托馬斯

Re：如何在Shift Detection Profiler中導出P（警告）圖表後面的值

親愛的托馬斯，

我已經運行了幾次腳本，而我總是找到測量系統分析輸出，包括移位檢測分析器輸出（基於子組數，部分均值偏移的各種圖表......）我找不到，或者知道如何找到圖形背後的實際值（意味著一系列x和y坐標，然後我可以從中創建測量系統分析輸出形式之外的相同圖形）。

如果你能指出我做錯了什麼或不做，請告訴我。非常感謝。

問候，斯科特。

Re：如何在Shift Detection Profiler中導出P（警告）圖表後面的值

嗨斯科特

以下是從軸獲取值的兩種方法：

pf=EMP Measurement Systems Analysis(
 Y( :Values ),
 X,
 Part( :Column 1 ),
 Model( "Crossed" ),
 Dispersion Chart Type( "Range" ),
 Parallelism Plots( 0 ),
 EMP Results( 1 ),
 Variance Components( 1 ),
 EMP Gauge RR Results( 1 ),
 Average Chart( 1 ),
 Dispersion Chart( 1 ),
 Shift Detection Profiler(
  Profiler(
   1,
   Confidence Intervals( 1 ),
   Term Value(
    Number of Subgroups( "10", Lock( 0 ), Show( 1 ) ),
    Part Mean Shift( 3, Lock( 0 ), Show( 1 ) ),
    Part Std Dev( 1, Lock( 0 ), Show( 1 ) ),
    Bias Factors Std Dev( 0, Max( 1 ), Lock( 0 ), Show( 1 ) ),
    Name( "Test-Retest Std Dev" )(0.0000008619, Lock( 0 ), Show( 1 )),
    Subgroup Size( "1", Lock( 0 ), Show( 1 ) )
   ),
   Name( "Change In-Control Part Std Dev" )(1)
  )
 ),
 Max Iter( 100 ),
 Conv Limit( 0.00000001 ),
 SendToReport(
  Dispatch(
   {},
   "Shift Detection Profiler",
   OutlineBox,
   {Set Summary Behavior( "Collapse" )}
  ),
  Dispatch(
   {"Shift Detection Profiler"},
   "EMP Shift Detection Profiler",
   FrameBox,
   {Frame Size( 236, 214 )}
  ),
  Dispatch(
   {"Shift Detection Profiler"},
   "EMP Shift Detection Profiler",
   FrameBox( 3 ),
   {Frame Size( 236, 214 )}
  ),
  Dispatch(
   {"Shift Detection Profiler"},
   "EMP Shift Detection Profiler",
   FrameBox( 5 ),
   {Frame Size( 236, 214 )}
  ),
  Dispatch(
   {"Shift Detection Profiler"},
   "EMP Shift Detection Profiler",
   FrameBox( 7 ),
   {Frame Size( 236, 214 )}
  ),
  Dispatch(
   {"Shift Detection Profiler"},
   "EMP Shift Detection Profiler",
   FrameBox( 9 ),
   {Frame Size( 236, 214 )}
  ),
  Dispatch(
   {"Shift Detection Profiler"},
   "EMP Shift Detection Profiler",
   FrameBox( 11 ),
   {Frame Size( 236, 214 )}
  ),
  Dispatch(
   {"Shift Detection Profiler"},
   "Customize and Select Tests",
   OutlineBox,
   {Close( 0 )}
  )
 )
);

rep=pf<<REPORT></REPORT>

KR，托馬斯