Hola a todos,
Reuní un ejemplo del uso de mapeo personalizado para resaltar defectos espaciales en planos de planta de semiconductores y mapas de obleas.
Esta técnica fue presentada previamente en Discovery 2015:
https://community.jmp.com/t5/Discovery-Summit-2015/System-on-Chip-SOC-Yield-Visualization-Using-Custom-Heat-Maps-in/ta-p/22797
Esto se puede utilizar como método para mostrar la capacidad de JMP para identificar, tanto visual como interactivamente, firmas espaciales dentro de sus datos.
Notas de instalación:
Antes de abrir "IC_Floorplan.jmp", instale los archivos a continuación en la carpeta "Mapas" donde JMP está instalado localmente, (Ej: C: \ Archivos de programa \ SAS \ JMPPRO \ 13 \ Mapas).
"IC_Layout-Name.jmp"
"IC_Layout-XY.jmp"
Mapa de calor personalizado 
Plano de planta personalizado con mapa de obleas
