Ciao a tutti,
Ho messo insieme un esempio di utilizzo della mappatura personalizzata per evidenziare i difetti spaziali nelle planimetrie dei semiconduttori e nelle mappe dei wafer.
Questa tecnica è stata precedentemente presentata a Discovery 2015:
https://community.jmp.com/t5/Discovery-Summit-2015/System-on-Chip-SOC-Yield-Visualization-Using-Custom-Heat-Maps-in/ta-p/22797
Questo può essere usato come metodo per mostrare la capacità di JMP di identificare, visivamente e interattivamente, le firme spaziali all'interno dei dati.
Note di installazione:
Prima di aprire "IC_Floorplan.jmp" installare i file sottostanti nella cartella "Mappe" in cui è installato localmente JMP, (Es: C: \ Programmi \ SAS \ JMPPRO \ 13 \ Maps).
"IC_Layout-Name.jmp"
"IC_Layout-XY.jmp"
Mappa di riscaldamento personalizzata Floorplan 
Piano personalizzato con mappa wafer
